Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 621.317:621.315.5/Б 28 Автор(ы) : Батавин, Виталий Васильевич, Концевой, Юлий Абрамович, Федорович, Юрий Вячеславович Заглавие : Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур Выходные данные : М.: Радио и связь, 1985 Колич.характеристики :264 с.: рис., табл. Серия: Измерения в электронике Примечания : Лит.: с. 251-262 Цена : 1.10 р. УДК : 621.317:621.315.5 ББК : 32.843.3 Предметные рубрики: Матеріали-- Напівпровідникові-- Вимірювання Географич. рубрики: Аннотация: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации. Экземпляры :ВВ(1) Свободны : ВВ(1) Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович; Алексеенко, А. Г. \ред.\; Валитов, Р. А. \ред.\; Васильченко, Н. В. \ред.\; Дубовицкий, Л. Г. \ред.\