621.396.6:621.3.049.77
Г55
Глудкин, Олег Павлович.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Энергия, 1980. - 360 с. : рис., табл. - Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357. - 1.00 р.ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Випробування--Навчальні видання для вищої школи
Кл.слова (ненормовані):
надежность микроэлектроники -- надійність мікроелектроніки -- параметры интегральных схем -- параметри інтегральних схем -- контроль интегральных схем -- контроль інтегральних схем -- испытания интегральных схем -- випробування інтегральних схем -- обработка экспериментальных данных -- обробка експериментальних даних -- методы прогнозирования -- методи прогнозування -- радиационная стойкость -- радіаційна стійкість -- математическое ожидание -- математичне очікування -- точность измерительных средств -- точність вимірюваних засобів -- нейтронное излучение -- нейтронне випромінювання
Анотація: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов.
Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Дод.точки доступу:
Черняев, Владимир Николаевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
|