Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=активний експеримент<.>
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 681.51.033.01/Г 81
Автор(ы) : Грешилов, Анатолий Антонович
Заглавие : Анализ и синтез стохастических систем. Параметрические модели и конфлюентный анализ
Выходные данные : М.: Радио и связь, 1990
Колич.характеристики :320 с.: рис., табл.
Примечания : Лит.: с. 313-317
ISBN, Цена 5-256-00293-7: 4.70 р.
УДК : 681.51.033.01
ББК : 32.811.1
Предметные рубрики: Випадкові сигнали
Географич. рубрики:
Аннотация: Методы анализа и синтеза стохастичесих систем.
Экземпляры :ВВ(1)
Свободны : ВВ(1)
Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.396.6(075.8)/Г 55
Автор(ы) : Глудкин, Олег Павлович, Черняев, Владимир Николаевич
Заглавие : Анализ и контроль технологических процессов производство РЭА : учеб. пособие для вузов
Выходные данные : М.: Радио и связь, 1983
Колич.характеристики :296 с.: рис., табл.
Примечания : Лит.: с. 293. - Предм. указ.: с. 293-294
Цена : 1.10 р.
УДК : 621.396.6(075.8)
ББК : 32.844я73
Предметные рубрики: Радіоелектронна апаратура-- Моделювання-- Контроль
Географич. рубрики:
фывфывфыв (''Своб.индексиров.''): статистичний ряд--статистический ряд--моделі складних процесів--модели сложных процессов--методи оптимізації--методы оптимизации--пасивний експеримент--пассивный эксперимент--активний експеримент--активный эксперимент--аналіз точності технологічного процесу--анализ точности технологического процесса--стабільність технологічного процесу--стабильность технологического процесса--кумулята--контроль параметрів мікросхем--контроль параметров микросхем--матриця--оцінка інформативності--оценка информативности--плівки--пленки--стандартне відхилення--стандартное отклонение--таблиці переходів--таблицы переходов--центральний композиційний план--центральный композиционный план--ентропія--энтропия
Аннотация: Описаны методы моделирования, анализа и контроля технологических процессов изготовления радиоэлектронной аппаратуры и ее элементов.
Экземпляры :ФОНД(1)
Свободны : ФОНД(1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)