Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Базы данных

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: <.>K=плівки<.>

Общее количество найденных документов : 47
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-47

544.6(075)
Л36

Левин, Арон Иосифович.
Теоретические основы электрохимии [] : учеб. пособие / А. И. Левин. - 2-е изд., [перераб.]. - М. : Металлургия, 1972. - 544 с. : рис., табл. - Лит.: с. 537-538. - 1.19 р.

УДК

544.6(075)

ББК 24.57я73
Рубрики: Електрохімія--Теорія--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
ионные равновесия -- іонні рівноваги -- электролиты -- електроліти -- электропроводность -- електропровідність -- электродный потенциал -- електродний потенціал -- электрокапиллярные явления -- електрокапілярні явища -- электрокинетические явления -- електрокінетичні явища -- диффузия -- дифузія -- водородное перенапряжение -- водневе перенапруження -- электрокристаллизация -- електрокристалізація -- адсорбция -- адсорбція -- анодное растворение металлов -- анодне розчинення металів -- пассивирующие пленки -- пасивуючі плівки -- коррозия металлов -- корозія металів -- аккумуляторы -- акумулятори -- электрохимические цепи -- електрохімічні ланцюги -- металлические порошки -- металеві порошки
Аннотация: Основы химической термодинамики, электрохимической термодинамики и кинетики электродных процессов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие

621.357.7(083)
К13

Каданер, Лев Ильич.
Справочник по гальваностегии [] / Л. И. Каданер. - Киев : Техніка, 1976. - 254 с. : рис., табл. - (Справочник инженера). - Лит.: с. 247-250. - 1.30 р.

УДК

621.357.7(083)

ББК 34.663я2
Рубрики: Гальванотехніка--Покриття--Довідкові видання

фывфывфыв:
сплавы -- сплави -- неметаллические материалы -- неметалеві матеріали -- электропроводность -- електропровідність -- электрокристаллизация -- електрокристалізація -- анодные процессы растворения металлов -- анодні процеси розчинення металів -- распределение тока -- розподілення струму -- гальванические покрытия -- гальванічні покриття -- механическая обработка поверхности -- механічна обробка поверхні -- подготовка поверхности металлов -- підготовка поверхні металів -- процессы электрохимического осаждения металлов -- процес електрохімічного осадження металів -- неорганические защитные пленки -- неорганічні захисні плівки -- нанесение гальванических покрытий -- нанесення гальванічних покриттів -- свойства гальванических покрытий -- властивості гальванічних покриттів
Аннотация: Сведения об электрохимической кинетике, электрокристаллизации металлов, анодных процессах и распределении тока на поверхности катода.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

620.18(075.8)
Б90

Бублик, Владимир Тимофеевич.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [] : учеб. пособие для вузов / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : рис., табл. - Лит.: с. 271. - Предм. указ.: с. 272. - 0.95 р.

УДК

620.18(075.8)

ББК 34.204
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи
Напівпровідники--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
световые микроскопы -- світлові мікроскопи -- амплитудный контраст -- амплітудний контраст -- фазовый контраст -- фазовий контраст -- дифракция -- дифракція -- динамическая теория рассеяния -- динамічна теорія розсіювання -- рентгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- исследование поликристаллов -- дослідження полікристалів -- исследование структуры кристаллов -- дослідження структури кристалів -- электронограммы -- електронограми -- нейтронография -- нейтронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- эпитаксальные пленки -- епітаксальні плівки
Аннотация: Изложена теория основных методов исследования структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов, металлических материалов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Дубровина, Анна-Аида Николаевна
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

621.3.049.77:621.318.1
Б 20

Балбашов, Анатолий Михайлович.
Магнитные материалы для микроэлектроники [] / А. М. Балбашов, А. Я. Червоненкис. - М. : Энергия, 1979. - 216 с. : табл., рис. - Лит.: с. 209-216. - 0.70 р.

УДК

621.3.049.77:621.318.1

ББК 32.843.5
Рубрики: Радіотехнічні--Матеріали та вироби--Практичні посібники

фывфывфыв:
світловий промінь -- световой луч -- магнитооптическая модуляция света -- магнітооптична модуляція світла -- управляючі транспоранти -- управляющие транспоранты -- термомагнітний запис інформації -- термомагнитная запись информации -- ортоферити -- ортоферриты -- гексаферити -- гексаферриты -- ферогранати -- феррошпинели -- феррогранаты -- одноісна анізотропія -- одноосная анизотропия -- гранатові епітаксиальні плівки -- гранатовые эпитаксиальные пленки -- термомагнітний запис -- термомагнитная запись -- розчини-розплави -- растворы-рассплавы -- оксидные магнетики -- оксидні магнетики
Аннотация: Принципы выбора магнитных материалов для различных микроэлектронных устройст.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Червоненкис, Андрей Яковлевич
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

621.3.049.776(075)
Б94

Бушминский, Игорь Петрович.
Технология гибридных интегральных схем СВЧ [] : учеб. пособие / И. П. Бушминский, Г. В. Морозов. - М. : Высш. шк., 1980. - 285 с. : рис., табл. - Прил.: с. 276-282. - Лит.: с. 283. - 0.60 р.

УДК

621.3.049.776(075)

ББК 32.844.1я73
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Конструювання--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
микрополосковые платы -- мікрополоскові плати -- проводящие пленки -- провідні плівки -- разистивные пленки -- разістивні плівки -- диэлектрические пленки -- діелектричні плівки -- разброс геометрических размеров -- розкид геометричних розмірів -- монтаж дискретных компонентов -- монтаж дискретних компонентів -- разброс конструкционных параметров -- розкид конструкційних параметрів
Аннотация: Технология производства гибридных интегральных микросхем СВЧ-диапазона (ГИС СВЧ).

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Морозов, Георгий Валерьевич
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Найти похожие

684.41
Б 48

Берелин, Анатолий Васильевич.
Облицовочные материалы в производстве мебели [] / А. В. Берелин, А. И. Фурин. - М. : Лесная пром-сть, 1981. - 137 с. : рис., табл., фото. цв. - Лит.: с. 136. - 0.55 р.

УДК

684.41

ББК 37.134.1
Рубрики: Меблеве виробництво--Облицьовувальні роботи--Матеріали--Практичні посібники

фывфывфыв:
декоративная бумага -- декоративний папір -- печатные краски -- друкарські фарби -- пропиточные смолы -- просочувальні смоли -- пропиточные растворы -- просочувальні розчини -- кромочные декоративные пленки -- крайкові декоративні плівки -- декоративные пленки -- декоративні плівки
Аннотация: Изложены вопросы производства имитационных декоративных материалов на бумажной основе, внедряемых в производстве мебели.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Фурин, Алексей Иванович
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

77.034
М79

Морли, Дон.
Фотосъемка движения [] : пер. с англ. / А. Ю. Федутинова ; коммент. В. И. Болотникова. - М. : Искусство, 1982. - 176 с. : ил., фото, рис. - (Массовая фотографическая библиотека). - Библиогр. в подстрочном примеч. - 0.50 р.

УДК

77.034

ББК 37.942.6
Рубрики: Фотозйомка--Велика Британія, 20 ст.--Популярні видання
фывфывфыв:
фотографирование -- фотографування -- фотосъемка движения -- фотозйомка руху -- фотографические процессы -- фотографічні процеси -- фотоаппараты -- фотоапарати -- экспозиция -- експозиція -- техника сьемки -- техніка зйомки -- техника выдержки -- техніка витримки -- фокусировка -- фокусіровка -- обьективы -- об'єктиви -- пленки -- плівки -- вспышки -- спалахи -- фильтры -- фільтри -- фотоувеличитель -- фотозбільшувач
Аннотация: Опыт фотосъемки движения.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Федутин, А. Ю. \пер.\; Болотников, В. И. \авт. коммент.\
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Найти похожие

621.3.049.77
Д70

Достанко, Анатолий Павлович.
Технология интегральных схем [] : учеб. пособие / А. П. Достанко. - Минск : Вышэйшая шк., 1982. - 206 с. : рис., табл. - Прил.: с. 200-203. - Лит.: с. 204. - 0.70 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1я73
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Виготовлення--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
технология интегральных микросхем -- технологія інтегральних мікросхем -- выращивание монокристаллов -- вирощування монокристалів -- эпитаксиальные полупроводниковые слои -- епітаксіальні напівпровідникові шари -- диэлектрические пленки -- діелектричні плівки -- фоторезисторы -- фоторезистори -- диффузная технология -- дифузна технологія -- формирование токопроводящих систем -- формування тонкопровідних систем -- комбинированные методы изоляции -- комбіновані методи ізоляції -- формирование интегральных микросхем -- формування інтегральних мікросхем -- тонкопленочные контакты -- тонкоплівкові контакти
Аннотация: Производство интегральных микросхем, оборудование для их реализации, типовые технологические процессы.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Найти похожие

34.204.11
Р 86

Румянцев, Степан Васильевич.
Справочник по радиационным методам неразрушающего контроля [] / С. В. Румянцев, А. С. Штань, В. А. Гольцев ; под ред. С. В. Румянцева. - Москва : Энергоатомиздат, 1982. - 240 с. : рис., табл. - Лит.: с. 232-233. - Предм. указ.: с. 234-237. - 1.30 р.

ББК 34.204.11
Рубрики: Металографія--Неруйнівний контроль--Довідкові видання

фывфывфыв:
металлография -- неразрушающий контроль -- методы радиационного контроля -- методи радіаційного контролю -- ионизирующие излучения -- іонізуюче випромінювання -- источники ионизирующих излучений -- джерела іонізуючого випромінювання -- рентгенографические пленки -- рентгенографічні плівки -- радиографический метод -- радіографічний метод -- радиоактивная газосорбционная дефектоскопия -- радіоактивна газосорбційна дефектоскопія -- нейтронная радиография -- нейтронна радіографія -- электрорадиография -- електрорадіографія -- радиоскопия -- радіоскопія -- радиометрические методы -- радіометричні методи -- лаборатории радиационной дефектоскопии -- лабораторії радіаційної дефектоскопії
Аннотация: Рассмотрены физико-технические методы радиационного неразрушающего контроля и измерений с аппаратурным и технологическим обеспечением.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Штань, Александр Сергеевич; Гольцев, Владимир Александрович; Румянцев, Степан Васильевич \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

10.

674.815
Т 85

Тупицын, Юрий Семенович.
Процессы и оборудование для отделки древесных плитных материалов [] : учеб. пособие для лесотехн. техникумов / Ю. С. Тупицын, С. Н. Мирошниченко, М. М. Ноткин. - М. : Лесная пром-сть, 1983. - 256 с. : рис., табл. - Лит.: с. 251. - Предм. указ.: с. 252-254. - 1.00 р.

УДК

674.815

ББК 37.133я72
Рубрики: Деревні плити--Обробка--Обладнання--Навчальні видання

фывфывфыв:
методы отделки плитных материалов -- методи обробки плитних матеріалів -- отделка лакокрасочными материалами -- обробка лакофарбовими матеріалами -- ламинирование плит -- ламінування плит -- проклеивание бумажно-смоляной пленки -- проклеювання паперово-смоляної плівки -- отделка плит печатанием -- обробка плит друкуванням -- каширование плит -- каширування плит -- отделка декоративными бумажно-слоистыми пластиками -- обробка декоративними паперово-шаруватими пластиками -- использование плит -- використання плит
Аннотация: Даны анализ и описание методов отделки древесных плитных материалов ламинированием, текстурными пленками, декоративными бумажно-слоистыми пластиками и др.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Мирошниченко, Сергей Николаевич; Ноткин, Марк Михайлович
Экземпляры всего: 2
ФОНД (1), ВВ (1)
Свободны: ФОНД (1), ВВ (1)
Найти похожие

11.

31.23я2
Э 45

Электротехнические материалы [] : справочник / [В. Б. Березин [и др.]. - 3-е изд., перераб. и доп. - Москва : Энергоатомиздат, 1983. - 504 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Предм. указ.: с. 497-501. - 2.50 р.

12.

621.396.6(075.8)
Г 55

Глудкин, Олег Павлович.
Анализ и контроль технологических процессов производство РЭА [] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Радио и связь, 1983. - 296 с. : рис., табл. - Лит.: с. 293. - Предм. указ.: с. 293-294. - 1.10 р.

УДК

621.396.6(075.8)

ББК 32.844я73
Рубрики: Радіоелектронна апаратура--Моделювання--Контроль--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
статистичний ряд -- статистический ряд -- моделі складних процесів -- модели сложных процессов -- методи оптимізації -- методы оптимизации -- пасивний експеримент -- пассивный эксперимент -- активний експеримент -- активный эксперимент -- аналіз точності технологічного процесу -- анализ точности технологического процесса -- стабільність технологічного процесу -- стабильность технологического процесса -- кумулята -- контроль параметрів мікросхем -- контроль параметров микросхем -- матриця -- оцінка інформативності -- оценка информативности -- плівки -- пленки -- стандартне відхилення -- стандартное отклонение -- таблиці переходів -- таблицы переходов -- центральний композиційний план -- центральный композиционный план -- ентропія -- энтропия
Аннотация: Описаны методы моделирования, анализа и контроля технологических процессов изготовления радиоэлектронной аппаратуры и ее элементов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Черняев, Владимир Николаевич
Экземпляры всего: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Найти похожие

13.

621.3.049.77(075)
Б82

Борисенко, Александр Сергеевич.
Технология и оборудование для производства микроэлектронных устройств [] : учебник / А. С. Борисенко, Н. И. Бавыкин. - М. : Машиностроение, 1983. - : рис., табл. - Лит.: с. 318-319. - 1.00 р.

УДК

621.3.049.77(075)

ББК 32.844.1я72
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Технологія виробництва--Устаткування--Навчальні видання

фывфывфыв:
тонкопленочные интегральные микросхемы -- тонкоплівкові інтегральні мікросхеми -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- рисунок микросхем -- малюнок мікросхем -- фотолитография -- фотолітографія -- толстопленочные интегральные схемы -- товстоплівкові інтегральні мікросхеми -- полупроводниковые микросхемы -- напівпровідникові мікросхеми -- большие интегральные схемы -- великі інтегральні мікросхеми -- печатные платы -- друковані плати -- гибридно-пленочные микросхемы -- гібридно-плівкові мікросхеми -- испытание микроэлектронной аппаратуры -- випробування мікроелектронної апаратури
Аннотация: Теоретические и практические вопросы технологии производства интегральных микросхем, печатных плат.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Бавыкин, Николай Иванович
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

14.

537.226.4:621.315.5
Т 56

Томашпольський, Юрий Яковлевич.
Пленочные сегнетоэлектрики [] / Ю. Я. Томашпольський. - М. : Радио и связь, 1984. - 192 с. : рис., табл. - Лит.: с. 185-191. - 2.20 р.

УДК

537.226.4:621.315.5

ББК 32.841.41
Рубрики: Сегнетоелектрики--Матеріали та вироби--Наукові видання

фывфывфыв:
сегнетоелектрика в тонкому шарі -- сегнетоэлектрика в тонком слое -- електронно-зондові методи -- электронно-зондовые методы -- фотонно-зондовые методы -- фотонно-зондові методи -- іонно-зондові методи -- ионно-зондовые методы -- вакуумні конденсати сегнетоелектриків -- вакуумные конденсаты сегнетоэлектриков -- локальна нестихіометрія -- локальная нестехиометрия -- катіонна нестихіометрія -- катионная нестехиометрия -- аніонна нестихіометрія -- анионная нестехиометрия -- спонтанна деформація -- спонтанная деформация -- монокристалічні плівки -- монокристаллические пленки -- епітаксія -- эпитаксия -- властивості сегнтоелектричних плівок -- свойства сегнетоэлектрических пленок -- застосування сегнетоелектриків -- применение сегнетоэлектриков
Аннотация: Аналитический обзор современного состояния проблем пленочного материаловедения сегнетоэлектриков.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

15.

631.544
П50

Полимерные пленки для выращивания и хранения плодов и овощей [] / [В. В. Андреев и др.] ; под ред.: С. В. Генеля, В. Е. Гуля. - М. : Химия, 1985. - 231 с. : рис., табл. - (Промышленность - селу). - Лит. в конце глав. - Предм. указ.: с. 227-231. - 1.20 р.

УДК

631.544

631.563

ББК 42.340 + 35.719.4
Рубрики: Тепличне овочівництво--Полімерні плівки--Практичні посібники

фывфывфыв:
полімерні плівкові матеріали -- полимерные пленочные материалы -- плівкові теплиці -- пленочные теплицы -- вирощування плодів -- выращивание плодов -- вирощування овочів -- выращивание овощей -- зберігання плодоовочевої продукції -- хренение плодоовощной продукции
Аннотация: Применение пленочных материалов для увеличения производства плодоовощной продукции в теплицах, временных укрытиях и при мульчировании почвы.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Андреев, Владимир Викторович; Антропова, Валентина Петровна; Балавинцева, Елена Красармовна; Бриллиантов, Юрий Вадимович; Генель, Самуил Венеаминович; Генель, С. В. \ред.\; Гуль, В. Е. \ред.\
Экземпляры всего: 2
ФОНД (1), ВВ (1)
Свободны: ФОНД (1), ВВ (1)
Найти похожие

16.

664.8:621.798.1
М 91

Муравин, Яков Григорьевич.
Применение полимерных и комбинированных материалов для упаковки пищевых продуктов [] / Я. Г. Муравин, М. Н. Толмачева, А. М. Додонов. - Москва : Агропромиздат, 1985. - 205 с. : рис., табл. - Лит.: с. 197-202. - 0.90 р.

УДК

664.8:621.798.1

ББК 36.818
Рубрики: Харчові виробництва--Полімери--Застосування--Практичні посібники

фывфывфыв:
требования к полимерной упаковке -- вимоги до полімерної упаковки -- упаковочные полимерные пленки -- пакувальні полімерні плівки -- полимерная тара -- полімерна тара -- упаковка напитков -- пакування напоїв -- упаковка хлебобулочных изделий -- пакування хлібобулочних виробів -- упаковка мясных продуктов -- пакування м'ясних продуктів -- упаковка рыбных продуктов -- пакування рибних продуктів -- упаковка молочных продуктов -- пакування молочних продуктів -- упаковка пищевых жиров -- пакування харчових жирів -- упаковка консервированных продуктов -- пакування консервованих продуктів -- каучуковые пасты -- каучукові пасти -- поливинилхлоридные пасты -- полівінілхлоридні пасти -- полимерные емкости -- полімерні ємності
Аннотация: Освещены вопросы использования полимерных материалов в отраслях промышленности, производящих продукты питания.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Толмачева, Марианна Николаевна; Додонов, Анатолий Михайлович
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

17.

621.3.049.77
Б88

Броудай, Ивор.
Физические основы микротехнологии [] = The Physics of Microfabrication / И. Броудай, Дж. Мерей ; пер. с англ.: В. А. Володина, В. С. Першенкова, Б. И. Подлепецкого; под ред. А. В. Шальнова. - М. : Мир, 1985. - 496 с. : рис., табл. - Прил.: с. 460-664. - Лит.: с. 465-483. - Предм. указ.: с. 484-492. - 2.60 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Мікросхемотехніка--Практичні посібники

фывфывфыв:
микроэлектронные приборы -- мікроелектронні прилади -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- литографические методы -- літографічні методи -- пучки частиц -- пучки частин -- изготовление микросхем -- виготовлення мікросхем -- микроскопия -- мікроскопія -- микрозонды -- мікрозонди -- лазерное сканирование -- лазерне сканування -- легироание -- легування
Аннотация: Технологические процессы микроэлектроники, включая субмикронную литографию, сухое травление, лазерный и электронно-лучевой отжиг.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Мерей, Джулиус; Володин, В. А. \пер.\; Першенков, В. С. \пер.\; Подлепецкий, Б. И. \пер.\; Шальнов, А. В. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

18.

621.3.049.77:621.396.6
Ш 49

Шермергор, Тимофей Дмитриевич.
Пленочные пьезоэлектрики [] / Т. Д. Шермергор, Н. Н. Стрельцова. - М. : Радио и связь, 1986. - 137 с. : рис., табл. - Лит.: с. 132-137. - 0.55 р.

УДК

621.3.049.77:621.396.6

ББК 32.843
Рубрики: П'єзотехніка--Матеріали та вироби--Практичні посібники

фывфывфыв:
п'єзоматеріали -- пьезоматериалы -- п'єзоелектричний ефект -- пьезоэлектрический эффект -- п'єзоелектроніка -- пьезоэлектроника -- метод отримання плівок -- метод получение пленок -- структура плівок -- структура пленок -- електрофізичні властивості плівок -- электрофизческие свойства пленок -- акустика плівок -- акустика пленок -- оптика плівок -- оптика пленок -- механічні властивості плівок -- механические свойства пленок -- тонкоплівочні пристрої -- тонкопленочные устройства -- п'єзоелектричні полімерні плівки -- пьезоэлектрические полимерные пленки
Аннотация: Физические свойства пьезоэлектрических материалов, используемых в микроэлектронике.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Стрельцова, Наталья Николаевна
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

19.

621.3.049.77(035)
Г74

Готра, Зенон Юрьевич.
Справочник по технологии микроэлектронных устройств [] / З. Ю. Готра. - Л. : Каменяр, 1986. - 287 с. : рис., табл. - Лит.: с. 284-285. - 1.00 р.

УДК

621.3.049.77(035)

ББК 32.844.1я2
Рубрики: Мікроелектроніка--Пристрої--Довідкові видання

фывфывфыв:
структура кристаллического твердого тела -- структура кристалічного твердого тіла -- очистка полупроводниковых материалов -- очистка напівпровідникових матеріалів -- обработка полупроводниковых материалов -- обробка напівпровідникових матеріалів -- полупроводниковые подложки -- напівпровідникові підкладки -- диффузия -- дифузія -- эпитаксиальные слои -- епітаксіальні шари -- фотошаблоны -- фотошаблони -- литографические процессы -- літографічні процеси -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- сборка микроэлектронных устройств -- складання мікроелектронних пристроїв
Аннотация: Данные о материалах, которые применяются при производстве микроэлектронных устройств, о способах их очистки и обработки.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), АБ (1)
Свободны: ВВ (1), АБ (1)
Найти похожие

20.

32.844.1
М80

Моряков, Олег Сергеевич.
Термические процессы в микроэлектронике [] : учеб. пособие / О. С. Моряков. - Москва : Высш. шк., 1987. - 199 с. : рис., табл. - Лит.: с. 197. - 0.40 р.

ББК 32.844.1
Рубрики: Напівпровідникові прилади--Інтегральні мікросхеми--Виготовлення--Навчальні видання для підвищення кваліфікації

фывфывфыв:
полупроводниковые приборы -- интегральные микросхемы -- контрольно-измерительные приборы -- контрольно-вимірювальні прилади -- технологические процессы -- технологічні процеси -- термические процессы -- термічні процеси -- элионная технология -- еліонна технологія -- фотолитография -- фотолітографія -- вакуумная техника -- вакумна техніка -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- сборочные работы -- складальні роботи -- герметизация полупроводниковых приборов -- герметизація напівпровідникових приладів
Аннотация: Процессы изготовления полупроводниковых приборов и микросхем диффузией, планарной и элитной технологией.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

1-20 21-40 41-47

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)