Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Базы данных

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: <.>K=мікроскопія<.>

Общее количество найденных документов : 40
Показаны документы с 1 по 30

1-30 31-40

636:576(075)
Г67

Горальський, Леонід Петрович.
Основи гістологічної техніки і морфофункціональні методи дослідження у нормі та при патології [] : навч. посібник / Л. П. Горальський, В. Т. Хомич, О. І. Кононський ; за ред. Л. П. Горальського. - Житомир : Полісся, 2005. - 286 с. : рис., сх. - Л-ра: с. 275-276. - ISBN 966-655-152-7 : 15.00 грн

УДК

636:576(075)

ББК 45.266я73 + 28.8я73
Рубрики: Гістологія--Навчальні видання
фывфывфыв:
місцеві видання -- местные издания -- гістологічні дослідження -- гистологические исследования -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- гістологічні препарати -- гистологические препараты -- фіксуючі речовини -- фиксирующие вещества -- виготовлення зрізів -- изготовление срезов -- гістохімічні методи досліджень -- гистохимические методы исследований -- світлова мікроскопія -- световая микроскопия -- морфометричні дослідження -- морфометрические исследования -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- морфофункціональні дослідження -- морфофункциональніе исследования
Аннотация: У посібнику викладені основи гістологічної техніки і описані основні методи морфофункціональних досліджень, які широко використовуються у біології, ветеринарній і гуманній медицині.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Хомич, В. Т.; Кононський, О. І.; Горальський, Л. П. \ред.\; Організація і розвиток науки у краї 11.02
Экземпляры всего: 2
ФОНД (1), ВВ (1)
Свободны: ФОНД (1), ВВ (1)
Найти похожие

631.41(075)
Х-65

Хмельницкий, Рюрик Аркадьевич.
Современные методы исследования агрономических объектов [] : учеб. пособие для студ. вузов / Р. А. Хмельницкий. - М. : Высшая школа, 1981. - 256 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 252-253. - 0.90 р.

УДК

631.41(075)

ББК 40.4я73 + 40.1я73
Рубрики: Агрономія--Навчальні видання для вищої школи --Агрофізика--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
термічний аналіз -- термический анализ -- рентгеноструктурний аналіз -- рентгеноструктурный анализ -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- інфрачервона спектроскопія -- инфракрасная спектроскопия -- хроматографія -- хроматография -- органічна мас-спектрометрія -- органическая масс-спектрометрия
Аннотация: Инструментальные методы анализа и применение их для исследования различных агрономических и агрохимических объектов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

159.9
Л86

Адрианов , О. С.
О принципах организации церебральных функций [] : сборник / О. С. Адрианов // А. Р. Лурия и современная психология : (сборник статей памяти А. Р. Лурия) / под ред. Е. Д. Хомской, Л. С. Цветковой, Б. В. Зейгарник. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1982. - С. 72-81

УДК

159.9

ББК 88.1(2)
Рубрики:
фывфывфыв:
церебральные функции -- церебральні функції -- прнципы организации -- принципи організації -- динамическая локализация функций -- динамічна локалізація функцій -- конструкции центральной нервной системы -- конструкції центральної нервової системи -- морфофизиологические исследования мозга -- морфофізіологічні дослідження мозку -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- цитохимия -- цитохімія -- авторадіография -- авторадіографія -- принципы структурной упорядоченности в организации мозга -- принципи структурної упорядкованості в організації мозку -- механизмы системной деятельности мозга -- механізми системної діяльності мозку
Аннотация: А. Р. Лурия заложил основы нейропсихологии - нового направления психологии, давшего мощный импульс для развития представлений о системной локализации мозговых функций.

Доп.точки доступа:
Хомская, Е. Д. \ред.\; Цветкова, Л. С. \ред.\; Зейгарник, Б. В. \ред.\

Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ЧЗ (1), АБ (1)
Свободны: ЧЗ (1), АБ (1)

Найти похожие

539.21(075)
С 87

Структура і фізичні властивості твердого тіла: лабораторний практикум [] : навч. посібник / О. Г. Алавердова [та ін.] ; за ред. Палатника Л. С. - К. : Вища школа, 1992. - 311 с. : рис., табл. - Л-ра: с. 305-308. - ISBN 5-11-003703-5 : 15.00 крб

УДК

539.21(075)

ББК 22.371.2я73
Рубрики: Тверді тіла--Фізичні властивості--Навчальні видання для вищої школи
Тверді тіла--Структура--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
тверді тіла -- твёрдые тела -- фізичні властивості -- физические свойства -- рентгенографія металів -- рентгенография металлов -- електронографія -- электронография -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- електричні властивості -- электрические свойства -- термоелектричні властивості -- термоэлектрические свойства -- теплові властивості -- тепловые свойства -- магнітні властивості -- магнитные свойства -- механічні властивості -- механические свойства -- спектральний аналіз -- спектральный анализ -- мас-спектрометрія -- мас-спектрометрия -- дефектоскопія -- дефектоскопия
Аннотация: Подано лабораторні роботи з тем спецкурсів "Рентгенографія металів", "Електронографія", "Електронна мікроскопія", "Фізичні методи дослідження металів і сплавів", "Вчення про міцність" та ін. Описано роботу на новітньому обладнанні.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Алавердова, О. Г.; Аринкін, О. В.; Богданова, О. Ф.; Бойко, Б. Т.; Палатник Л. С. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Найти похожие

548.53(075)
Б 90

Бублик, Владимир Тимофеевич.
Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" [] : учеб. пособие / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Высш. шк., 1988. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 169-190. - Лит.: с. 191. - ISBN 5-06-001309-X : 0.50 р.

УДК

548.53(075)

ББК 22.37я73
Рубрики: Тверді тіла--Фізика--Задачі (навч.)--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
структурный анализ -- структурний аналіз -- кристаллические решётки -- кристалічні решітки -- коротковолновые излучения -- короткохвильові випромінювання -- рентгеновские лучи -- рентгенівські промені -- ряды Фурье -- ряди Фур'є -- кинематическое рассеяние -- кінематичне розсіювання -- динамическое рассеяние -- динамічне розсіювання -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- электронография -- електронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- диэлектрики -- діелектрики -- полупроводники -- напівпровідники
Аннотация: Содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Дубровина, А. Н.
Экземпляры всего: 2
ФОНД (2)
Свободны: ФОНД (2)
Найти похожие

547.96
П 69

Практическая химия белка [] = Practical Protein Chemistry / [Р. Маршелл и др.] ; ред. А. Дарбре ; пер. с англ.: Н. А. Алдановой, И. В Назимова, П. Д. Решетова. - М. : Мир, 1989. - 621 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 605-611. - ISBN 5-03-001031-9 : 6.60 р.

УДК

547.96

ББК 24.239
Рубрики: Білки (хім.)--Органічна хімія--Навчальні видання
фывфывфыв:
биоорганическая химия -- біоорганічна хімія -- полипептиды -- поліпептиди -- дисульфидные связи -- дисульфідні зв'язки -- хроматография белков -- хроматографія білків -- аналитические методы -- аналітичні методи -- структура белков -- структура білків -- аминокислотная последовательность -- амінокислотна послідовність -- рентгеновская кристаллография -- рентгенівська кристалографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія
Аннотация: Методические разработки в исследованиях первичной структуры белков, а также традиционные методы, широко используемые в исследовательской практике.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Маршелл, Роберт; Инглис, Адам; Фонтана, Анджело; Дарбре, Андре \ред.\; Алданова, Н. А. \пер.\; Назимов, И. В. \пер.\; Решетов, П. Д. \пер.\
Экземпляры всего: 2
ФОНД (1), ЧЗ (1)
Свободны: ФОНД (1), ЧЗ (1)
Найти похожие

621.317:621.315.5
Б 28

Батавин, Виталий Васильевич.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [] / В. В. Батавин, Ю. И. Концевой, Ю. В. Федорович ; [редкол.: А. Г. Алексеенко и др.]. - М. : Радио и связь, 1985. - 264 с. : рис., табл. - (Измерения в электронике). - Лит.: с. 251-262. - 1.10 р.

УДК

621.317:621.315.5

ББК 32.843.3
Рубрики: Матеріали--Напівпровідникові--Вимірювання--Практичні посібники

фывфывфыв:
чотиризондовий метод -- четырехзондовый метод -- двозондовий метод -- двухзондовый метод -- неоднорідність питомого опору -- неоднородность удельного сопротивления -- опір епітаксиальних шарів -- сопротивление эпитаксиальных слоев -- ефект Хола -- эффект Холла -- геометричний магнітний опір -- геометрическое магнитное сопротивление -- спектри поглинання -- спектры поглощения -- спектри відображення -- спектры отображения -- дифузні шари -- диффузные слои -- інфрачервона інтерференція -- инфракрасная интерференция -- інфрачервана фур'є-спектромія -- инфракрасная фурье-спектромия -- метод покраски шліфу -- метод окрашивания шлифа -- контроль параметрів неосновних носіїв заряду -- контроль параметров неосновных носителей заряда -- дифузна довжина -- диффузная длина -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- ионная масс-спектроскопия -- іонна мас-спектроскопія -- электронная оже-спектроскопия -- електронна oже-спектроскопія -- электронно-зондовый рентгеновский микроанализ -- електронно-зондовий рентгенівський мікроаналіз
Аннотация: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович; Алексеенко, А. Г. \ред.\; Валитов, Р. А. \ред.\; Васильченко, Н. В. \ред.\; Дубовицкий, Л. Г. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

621.315.592
С 51

Смородина, Татьяна Александровна.
Вхождение примесных центров в кристаллический слой полупроводника [] : (процессы образования монокристаллических слоев для микроэлектроники) / Т. А. Смородина, Н. Н. Шефталь, А. П. Цуранов ; отв. ред. И. А. Смирнов ; Акад. наук CССР, Физико-технич. ин-т, Ин-т кристаллографии . - Л. : Наука, Ленингр. отд-ние, 1986. - 176 с. : рис., табл. - Лит.: с. 161-171. - 1.60 р.

УДК

621.315.592

ББК 32.843.3
Рубрики: Напівпровідники--Кристалографія--Наукові видання

фывфывфыв:
оптическая микроскопия -- оптична мікроскопія -- аномальное прохождение рентгеновских лучей -- аномальний прохід рентгенівських променів -- фотоупругость -- фотопружність -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральний аналіз -- автоэлектронная микроскопия -- автоелектронна мікроскопія -- кристаллография материалов -- кристалографія матеріалів -- дефекты кристаллической структуры -- дефекти кристалічної структури -- нестехиометрия -- нестехіометрія -- изоморфизм -- ізоморфізм -- чужеродные атомы -- сторонні атоми -- двумерные несовершенства решетки -- двомірні недосконалості решітки -- кристаллические примесные комплексы -- кристалічні домішкові комплекси -- поверхностная сегрегация -- поверхнева сегрегація -- термодинамика сегрегации -- термодинаміка сегрегації -- выращивание кристаллов -- вирощування кристалів
Аннотация: Рассмотрена связь условий вхождения примеси в растущий слой полупроводника с микро- и макроморфологией возникающей в нем дефектов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Шефталь, Николай Наумович; Цуранов, Александр Павлович; Смирнов, И. А. \ред.\; Академия наук CССР; Ордена Ленина физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе; Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

621.3.049.77
Б88

Броудай, Ивор.
Физические основы микротехнологии [] = The Physics of Microfabrication / И. Броудай, Дж. Мерей ; пер. с англ.: В. А. Володина, В. С. Першенкова, Б. И. Подлепецкого; под ред. А. В. Шальнова. - М. : Мир, 1985. - 496 с. : рис., табл. - Прил.: с. 460-664. - Лит.: с. 465-483. - Предм. указ.: с. 484-492. - 2.60 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Мікросхемотехніка--Практичні посібники

фывфывфыв:
микроэлектронные приборы -- мікроелектронні прилади -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- литографические методы -- літографічні методи -- пучки частиц -- пучки частин -- изготовление микросхем -- виготовлення мікросхем -- микроскопия -- мікроскопія -- микрозонды -- мікрозонди -- лазерное сканирование -- лазерне сканування -- легироание -- легування
Аннотация: Технологические процессы микроэлектроники, включая субмикронную литографию, сухое травление, лазерный и электронно-лучевой отжиг.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Мерей, Джулиус; Володин, В. А. \пер.\; Першенков, В. С. \пер.\; Подлепецкий, Б. И. \пер.\; Шальнов, А. В. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

10.

24.1
П 69

Практикум по общей химии [] : учеб. пособие / под ред.: Е. М. Соколовской, О. С. Зайцева. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1981. - 400 с. : рис., табл. - Лит.: с. 397-398. - 1.60 р.

ББК 24.1
Рубрики: Загальна хімія--Практичні посібники

фывфывфыв:
научный эксперимент -- науковий експеримент -- химическая лаборатория -- хімічна лабораторія -- электрические нагревательные приборы -- електричні нагрівальні прилади -- центрифуги -- мерная посуда -- мірний посуд -- дистиллированная вода -- дистильована вода -- микроскопия -- мікроскопія -- термометры -- термометри -- методы очистки веществ -- методи очищення речовин -- химический эквивалент -- хімічний еквівалент -- химические реакции -- хімічні реакції -- буферные растворы -- буферні розчини -- гидролиз солей -- гідроліз солей -- коллоидные растворы -- колоїдні розчини -- комплексные соединения -- комплексні сполуки -- галогены -- галогени -- сполуки елементів -- соединения элементов
Аннотация: Экспериментальные задания по основным законам химии, общим закономерностям химических реакций, химии элементов, качественному анализу.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Соколовская, Е. М. \ред.\; Зайцев, О. С. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие

11.

687.03(076)
Л12

Лабораторный практикум по материаловедению швейного производства [] : учеб. пособие для вузов / [Б. А. Бузов и др.] ; под ред. Б. А. Бузова. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : Легпромбытиздат, 1991. - 430, [2] с. : рис., табл. - Авт. указ. на оборот. тит. л. - Лит.: с. 428. - ISBN 5-7088-0047-X : 1.60 р.

УДК

687.03(076)

ББК 37.24-9я73
Рубрики: Швейне виробництво--Матеріали--Лабораторний практикум--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
испытание материалов -- випробування матеріалів -- влажность материалов -- вологість матеріалів -- световая микроскопия материалов -- світлова мікроскопія матеріалів -- волокнистый состав материалов -- волокнистий склад матеріалів -- швейные нити -- швейні нитки -- полуцикловая характеристика ниток -- напівциклова характеристика ниток -- усталость нитей -- втомленість ниток -- выносливость нитей -- виносливість ниток -- структура текстильных материалов -- механические свойства текстиля -- механічні властивості текстилю -- физические свойства текстиля -- фізичні властивості текстилю -- износ текстильных материалов -- виносливість текстильних матеріалів -- качество текстильных материалов -- якість текстильних матеріалів -- искусственный мех -- штучне хутро -- утепляющие материалы -- утеплюючі матеріали -- клеевые материалы -- клеєві матеріали -- фурнитура швейная -- фурнітура швейна
Аннотация: Рассмотрены основные виды испытаний для определения характеристик структуры и свойств материалов, применяемых в швейном производстве, описаны методы оценки их качества.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Бузов, Борис Александрович; Алыменкова, Надежда Дмитриевна; Петропавловский, Дмитрий Георгиевич; Андриенко, Петр Павлович; Бузов, Борис Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Найти похожие

12.

004.083.72
К58

Коженевский, С. Р.
Взгляд на жесткий диск "изнутри". Визуальный анализ [] / С. Коженевский. - К. : ЕПОС, 2004. - 64 с. : табл., рис. - Лит.: с. 61-62. - 10.00 грн

УДК

004.083.72

ББК 32.973.2-045
Рубрики: Жорсткі диски--Практичні посібники

фывфывфыв:
оптические микроскопы -- оптичні мікроскопи -- магнитные суспензии -- магнітні суспензії -- формирование изображений -- формування зображень -- канальные данные -- канальні дані -- кодирование -- кодування -- магнитооптический метод анализа поверхностей -- магнітооптичний метод аналізу поверхонь -- визуализация магнитных поверхностей -- візуалізація магнітних поверхонь -- параметры игл зонда -- параметри голок зонду -- магнитные поверхности пластин -- магнітні поверхні пластин -- магнитная силовая микроскопия -- магнітна силова мікроскопія -- уничтожение информации -- знищення інформації -- утилизатор информации -- утилізатор інформації
Аннотация: Методы визуализации магнитных доменов являются инструментом, позволяющим создать визуальное представление доменной структуры, рабочих поверхностей носителя.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

13.

004.083.72
К58

   Коженевский, С. Р.
    Безопасность хранения информации на жестких магнитных дисках [Текстььь] / С. Коженевский. - К. : ЕПОС, 2006 - .
   Ч. 1. - 192 с. : табл., рис. - Лит.: с. 192. - 16.00 грн

УДК

004.083.72

ББК 32.973.2-045
Рубрики: Жорсткі диски--Практичні посібники

фывфывфыв:
хранение информации -- зберігання інформації -- эффекты магнетизма -- ефекти магнетизму -- магнитная запись -- магнітний запис -- размещение данных -- розміщення даних -- кодирование информации -- кодування інформацї -- сервосистемы жестких дисков -- сервосистеми жорстких дисків -- система управления вращением дисков -- система управління обертанням дисків -- магнитная силовая микроскопия -- магнітна силова мікроскопія -- анализ магнитных сигналограмм -- аналіз магнітних сигналограм -- восстановление информации -- відновлення даних -- сохранение данных -- зберігання данних -- уничтожение информации -- знищення інформації -- утилизатор информации -- утилізатор інформації
Аннотация: Теоретические и практические вопросы безопасности хранения информации на накопителях на жестких магнитных дисках.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

14.

004.4
И74

Информационная безопасность офиса [] : науч.-практ. сборник. Вып. 1. Технические средства защиты информации / [науч. ред. В. В. Овсянников]. - К. : ЕПОС : ТИД ДС, 2003. - 213, [3] с. : рис., табл. - Лит. в конце ст. - ISBN 966-7992-20-9 : 20.00 грн
Приложение:
Информационная безопасность. Вып. 2. Информационная политика и технологии. - Киев : Епос, 2005. - 128. Шифр -731076

УДК

004.4

ББК 32.973.2
Рубрики: Інформаційна безпека--Популярні видання

фывфывфыв:
TEMPEST -- утечка информации -- витік інформації -- построение компьютеров -- побудова комп'ютерів -- защита персональных компьютеров -- захист персональних комп'ютерів -- электропитание персонального компьютера -- електроживлення персонального комп'ютера -- безопасность жестких дисков -- безпека жорстких дисків -- хранение информации -- зберігання інформації -- восстановление информации -- відновлення інформації -- уничтожение информации -- знищення інформації -- визуализация магнитных полей -- візуалізація магнітних полів -- сканирующая зондовая микроскопия -- скануюча зондова мікроскопія -- программное удаление данных -- програмне знищення даних -- гарантированное удаление данных -- гарантоване знищення даних -- доступность данных -- доступність даних -- кластеры -- кластери -- физически разделенные сети -- фізично розділені мережі
Аннотация: Проблемы защиты информации от утечки информации по каналам побочных излучений и наводок, приведены рекомендации по построению локальных сетей.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Овсянников, В. В. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

15.

611-018.1(075.8)
Г51

Гистология, цитология и эмбриология [Текстььь] : в 3 кн. : учеб. пособие для студентов высш. мед. учеб. завед. ; [пер. с укр.] / под ред.: Э. Ф. Баринова, Ю. Б. Чайковского. - К. : Медицина, 2010 - .
Кн. 1 : Цитология и общая эмбриология / [Э. Ф. Баринов и др.]. - [4-е изд., испр. и доп.]. - 2010. - 222, [2] с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Прил. в конце глав. - Лит.: с. 220. - Ответы на тестовые задания: с. 221. - ISBN 978-617-505-074-3 : 53.00 грн

УДК

611-018.1(075.8)

ББК 28.86я73
Рубрики: Цитологія--Навчальні видання для вищої школи
Ембріологія--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
цитология -- загальна ембріологія -- общая эмбриология -- мікроскопія -- микроскопия -- гістологія -- гистология -- плазмолема -- плазмолемма -- клітина -- клетка -- цитоплазма -- цитодіагностика -- цитодиагностика -- ембріогенез птахів -- эмбригенез птиц -- ембріогенез плацентарних ссавців -- эмбриогенез плацентарных млекопитающих -- ембріогенез людини -- эмбриогенез человека -- запліднення -- оплодотворение -- гістогенез -- гистогенез -- органогенез
Аннотация: В первой книге изложен материал "Цитология и общая эмбриология", который кроме традиционных тем дополнен новым разделом - "Цитодиагностика".

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Баринов, Э. Ф. \ред.\; Чайковский, Ю. Б. \ред.\; Баринов, Э. Ф.; Чайковский, Ю. Б.; Николенко, О. И.; Суляева, О. Н.
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие

16.

62(076)
Н34

Наука і техніка в сучасному світі [] : збір. наук.-попул. текстів та навч. завдань для студентів-іноземців тех. вишів / [Г. Бойко та ін.] ; за ред. канд. філол. наук доц. Ігоря Карого ; М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л. : Вид-во Львів. політехніки, 2012. - 180 с. : табл., фото.цв. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Л-ра: с.171-178. - ISBN 978-617-607-312-3 : 40.00 грн

УДК

62(076)

ББК 30я7
Рубрики: Техніка--Тести--Практичні посібники
Наука--Тести--Практичні посібники

фывфывфыв:
персональний комп'ютер -- персональный компьютер -- програмне забезпечення -- программное обеспечение -- комп'ютерні віруси -- компьютерные вирусы -- хімія -- химия -- звук -- акустика -- сіль -- соль -- метали -- металлы -- анізотропний бетон -- анизотропный бетон -- нафта -- нефть -- телекомунікації -- телекоммуникации -- електротранспорт -- электротранспорт -- дирижабль -- енергія -- энергия -- енергетика -- энергетика -- електромагнітні хвилі -- электромагнитные волны -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- сонячні затемнення -- солнечные затмения -- вежі -- башни -- будівельні матеріали -- строительные материалы -- забудова -- застройка -- голографія -- голография -- архітектура -- архитектура
Аннотация: Збірник містить 32 науково-популярні тести з передтекстовими та післятекстовими завданнями і 13 додаткових текстів для самостійного читання, призначених для чужоземних студентів, котрі навчаються в українських технічних вишах.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Бойко, Галина; Гроховська, Тетяна; Качала, Олег; Юзвяк, Ірина; Карий, Ігорь \ред.\; Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України; Національний університет "Львівська політехніка"
Экземпляры всего: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Найти похожие

17.

620.3:669.017
Н25

Наноматеріали і нанотехнології [] : підручник для студ. вищ. навч. закл. / [В. О. Богуслаєв та ін.] ; під заг.ред. В. О. Богуслаєва. - Запоріжжя : Мотор Січ, 2015. - 201, [1] с. : рис., табл. - Л-ра: с. 198-201. - ISBN 978-966-2906-53-0 : 50.00 грн

УДК

620.3:669.017

ББК 30.3 + 34.43
Рубрики: Нанотехнології--Властивості--Дослідження--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
розвиток наноматеріалів -- развитие наноматериалов -- класифікація наноматеріалів -- классификация наноматериалов -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- дифракційний аналіз -- дифрикционный анализ -- спектральний аналіз -- спектральный анализ -- випробування нанотвердості -- испытание нанотвердости -- фулерени -- фулерены -- нанокристалічні плівки -- нанокристаллические пленки -- нанокристалічні покриття -- нанокристаллические покрытия -- аморфізація поверхні -- аморфизация поверхности -- застосування наноматеріалів -- применение наноматериалов
Аннотация: Характеристика наноматеріалів, технологія їх отримання, а також представлено методи дослідження наноматеріалів, їх стуктуру і властивості.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Богуслаєв, Вячеслав Олександрович; Качан, Олексій Якович; Калініна, Наталія Євграфівна; Мозговий, Володимир Федорович; Богуслаєв, Вячеслав Олександрович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

18.

539.1
К36

Кесслер, Иоахим.
Поляризованные электроны [] = Polarized Electrons / И. Кесслер ; пер.с англ.: Н. М. Кабачника, Ю. А. Мамаева. - М. : Мир, 1988. - 368 с. : рис., табл. - Лит.: с. 351-361. - Предм. указ.: с. 362-364. - ISBN 5-03-001112-9 : 3.90 р.

УДК

539.1

ББК 22.38
Рубрики: Ядерна фізика--Елементарні частинки--Наукові видання

фывфывфыв:
поляризационные эффекты -- поляризаційні ефекти -- фотоионизация -- фотоіонізація -- многофотонная ионизация -- багатофотонна іонізація -- тормозное излучение -- гальмівне випромінювання -- синхротронное излучение -- синхротронне випромінювання -- фотоэмиссия -- фотоемісія -- автоэлектронная эмиссия -- автоелектронна емісія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія
Аннотация: Получение пучков поляризованных электронов и их использование в атомной физике, физике твердого тела и физике поверхностей.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Кабачник, Н. М. \пер.\; Мамаев, Ю. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие

19.

669.018.056
К56

Ковалев, Анатолий Иванович.
Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.

УДК

669.018.056

20.

669.017:620.187(03)
Э45

Электронная микроскопия в металловедении [] : справочник / [А. В. Смирнова и др.] ; под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 192 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с.184-187. - Прил.: с. 188-190. - Предм. указ.: с. 191. - 1.10 р.

УДК

669.017:620.187(03)

ББК 34.2
Рубрики: Металознавство--Електронна мікроскопія--Довідкові видання

фывфывфыв:
метод реплик -- метод реплік -- метод фольг -- электронная фрактография -- електронна фрактографія -- микродифракционный анализ -- мікродифракційний аналіз -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- микрофрактограммы -- мікрофрактограми
Аннотация: Обобщены и систематизированы данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях сталей и сплавов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Смирнова, Анна Владимировна; Кокорин, Глеб Александрович; Полонская, Софья Марковна; Яровой, В. В.; Смирнова, Анна Владимировна \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

21.

669.017
Ф50

Физическое металловедение [Текстььь] = Physical metallurgy : в 3 т. / под ред.: Р. У. Кана, П. Хаазена. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1987.
Т. 1 : Атомное строение металлов и сплавов / пер. с англ. под ред.: О. В. Абрамова, Ч. В. Копецкого, А. В. Серебрякова. - 1987. - 640 с. : рис., табл. - Лит.: с. 594-624. - Предм. указ.: с. 625-631. - 6.40 р.

УДК

669.017

22.

620.18(075.8)
Б90

Бублик, Владимир Тимофеевич.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [] : учеб. пособие для вузов / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : рис., табл. - Лит.: с. 271. - Предм. указ.: с. 272. - 0.95 р.

УДК

620.18(075.8)

ББК 34.204
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи
Напівпровідники--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
световые микроскопы -- світлові мікроскопи -- амплитудный контраст -- амплітудний контраст -- фазовый контраст -- фазовий контраст -- дифракция -- дифракція -- динамическая теория рассеяния -- динамічна теорія розсіювання -- рентгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- исследование поликристаллов -- дослідження полікристалів -- исследование структуры кристаллов -- дослідження структури кристалів -- электронограммы -- електронограми -- нейтронография -- нейтронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- эпитаксальные пленки -- епітаксальні плівки
Аннотация: Изложена теория основных методов исследования структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов, металлических материалов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Дубровина, Анна-Аида Николаевна
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

23.

669.017.16
Б25

   Баррет, Ч. С.
    Структура металлов [Текстььь] = Strukture of metals : [в 2 ч.] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1984.
   Ч. 2. - 1984. - С. 355-686 : рис., табл. - Прил.: с. 605-624. - Лит.: с. 625-680. - Предм. указ.: с. 681-686. - 3.20 р.
Наскрізна нумерація с.

УДК

669.017.16

ББК 34.204
Рубрики: Метали--Структура--Наукові видання

фывфывфыв:
теории металлических фаз -- теорії металічних фаз -- атомные размеры -- атомні розміри -- дефекты кристаллов -- дефекти кристалів -- рентгеновские методы -- рентгенівські методи -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- фазовые превращения -- фазові перетворення -- полиморфные превращения -- поліморфні перетворення -- мартенситные превращения -- мартенситні перетворення -- холодная деформация -- холодна деформація -- текстуры отжига -- текстура відпалу -- дифракция электронов -- дифракція електронів -- дифракция нейтронов -- дифракція нейтронів -- магнитные структуры металлов -- магнітні структури металів
Аннотация: Рассмотрены природа основных структур, дефекты в кристаллах и методы их исследования, превращение одной кристаллической структуры в другую.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Массальский, Т. Б.; Бернштейн, А. М. \пер.\; Добаткин, С. В. \пер.\; Бернштейн, Марк Львович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

24.

669.017
П75

Приборы и методы физического металловедения [Текстььь] = Tools and technigues in physical metallurgy : в 2 ч. / пер с англ. ; под ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - 1974.
Вып. 2 / [предисл. В. Н. Колесникова]. - 1974. - 364, [2] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - 1.70 р.

УДК

669.017

ББК 34.204.13
Рубрики: Металознавство--Наукові видання

фывфывфыв:
электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- автономная микроскопия -- автономна мікроскопія -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- термоелектронна емісійна мікроскопія -- рентгеноспектральный микроанализ -- рентгеноспектральний мікроаналіз -- эмиссионный спектральный анализ -- емісійний спектральний аналіз
Аннотация: В книгу включены обзорные статьи, посвященные различным видам микроскопии, рентгеноспектральному микроанализу, атомной абсорбционной спектрографии.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Вейнберг, Ф. \ред.\; Колесников, В. Н. \авт. предисл.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

25.

28.4я73
Т34

Теппер, Екатерина Зельмановна.
Практикум по микробиологии [] : учеб. пособие для студентов высш. учеб. заведений, обучающихся по агроном. специальностям / Е. З. Теппер, В. А. Шильникова, Г. И. Переверзева. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Агропромиздат, 1987. - 239 с. : ил. - (Учебники и учебные пособия для высших учебных заведений). - Лит.: с. 232-233. - 0.45 р.

ББК 28.4я73
Рубрики: Мікробіологія--Практичні заняття--Навчальні видання для вищої школи
Сільськогогосподарська мікробіологія--Практичні заняття--Навчальні видання для вищої школи
фывфывфыв:
микробиология -- мікробіологія -- микроорганизмы -- мікроорганізми -- бактерии -- бактерії -- грибы -- гриби -- микроскопия -- мікроскопія -- сельскохозяйственная микробиология -- сільськогосподарська мікробіологія -- ризосферные микробиоценозы -- ризосферні мікробіоценози
Аннотация: Показаны методики исследования различных микроорганизмов. Приведены способы приготовления и стерилизации питательной среды, качественного и количественного учета грибов и бактерий на разнообразных субстратах.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Шильникова, Викторина Кузьминична; Переверзева, Генриетта Ивановна
Экземпляры всего: 2
ЧЗ (1), ВВ (1)
Свободны: ЧЗ (1), ВВ (1)
Найти похожие

26.

620.22-039+621.38](075.8)
К64

Кондир, Анатолій Іванович.
Наноматеріалознавство і нанотехнології [] : навч. посіб. / А. І. Кондир ; М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Львів : Львівська політехніка, 2016. - 452 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 440-446. - ISBN 978-617-607-905-7 : 310.00 грн

УДК

620.22-039+621.38](075.8)

ББК 30.3
Рубрики: Матеріалознавство--Навчальні видання для вищої школи
Нанотехнології--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
наноматеріали -- нанодисперсні системи -- нанопорошки -- нановироби -- наноструктуровані об'єкти -- карбон -- нанокластерні модифікації карбону -- нанотрубки -- нанокластери -- нанокристали -- консолідовані наноматеріали -- наноплівки -- нанодроти -- нановолокна -- нанорозмірні біологічні структури -- нанорозмірні полімерні структури -- квантові ями -- квантові точки -- графен -- графолд -- силіцен -- ліпосоми -- ніосоми -- нанокомпозити -- фотонні кристали -- нанокераміка -- гетерофулерени -- фулерити -- віскери -- растрова мікроскопія -- квантові розмірні ефекти
Аннотация: Викладено фізичні, матеріалознавчі і технологічні основи отримання широкого класу наноматеріалів на органічній, неорганічній та біологічній основах. Розглянуто способи виробництва наноматеріалів. Наведено методи дослідження нанооб’єктів та будову найпоширеніших нині наноматеріалів. Визначено галузі застосування наноматеріалів.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Міністерство освіти і науки України; Національний університет "Львівська політехніка"
Экземпляры всего: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Найти похожие

27.

579.66/67:663.1](075.8)
Т38

Технічна мікробіологія [] : підруч. для студентів вищ. навч. закл. / В. О. Коваленко [та ін.]. - Вид. 2-ге, стер. - Харків : Світ книг, 2016. - 678, [2] с. : рис., табл. - Дод.: с. 671-676. - Літ.: с. 677-678. - ISBN 978-966-2678-11-6 : 324.00 грн

УДК

579.66/67:663.1](075.8)

ББК 30.16я73
Рубрики: Мікробіологічна промисловість--Навчальні видання для вищої школи
Мікробіологія--Навчальні видання для вищої школи

фывфывфыв:
мікроорганізми -- консервування харчових продуктів -- мікрофлора тари -- патогенні мікроорганізми -- харчові захворювання -- мікрофлора харчових продуктів -- використання мікроорганізмів -- мікроскопія мікробних препаратів -- систематика бактерій -- морфологія дріжджів -- культивування мікроорганізмів -- мікробіологічний контроль
Аннотация: Морфологія, фізіологія, генетика, екологія та систематика мікроорганізмів: патогенні мікроорганізми та аламентарні захворювання, санітарно-гігієнічний контроль харчових виробництв.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Коваленко, Валентина Олексіївна; Цихановська, Ірина Василівна; Лазарєва , Тетяна АнатоліЇвна; Коваль, Алла Анатоліївна
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

28.

620.3(075.8)
В47

Вимірювання у нанотехнологіях: методи і засоби [] : навч. посіб. / П. Р. Гамула [та ін.] ; за ред. Б. І. Стадника ; М-во освіти і науки України, Нац. ун-т "Львівська політехніка". - Львів : Вид-во Львів. політехніки, 2016. - 186, [2] с. : рис., табл. - Літ.: с. 178-186. - ISBN 978-617-607-997-2 : 260.00 грн

УДК

620.3(075.8)

ББК 30.3я73
Рубрики: Нанотехнології--Вимірювання--Навчальні видання

фывфывфыв:
методи нанометрії -- засоби нанометрії -- оптичні сенсори -- біохімічні сенсори -- конфокальний сенсор -- фокусний сенсор -- кантилевери -- лазерне випромінювання -- сканувальна зондова мікроскопія -- електронний мікроскоп -- силовий мікроскоп -- тунельний мікроскоп -- похибки вимірювання -- метрологія засобів вимірювання -- коефіцієнти Селмейера
Аннотация: Проблематика вимірювань у нанометровому діапазоні: сучасні методи та засоби, що використовуються в нанометрії, оптичні сенсори сканувальної мікроскопії і кантилеври.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Гамула, Павло Романович; Дацюк, Марта Ігорівна; Крайовський, Володимир Ярославович; Луцик, Ярослав Теодорович; Стадник, Богдан Іванович \ред.\; Міністерство освіти і науки України; Національний університет "Львівська політехніка"
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

29.

Ирьянов, Ю. М.
Исследование сосудов микроциркуляторного русла регенерата кости с помощью сканирующей электронной микроскопии [] / Ю. М. Ирьянов // Медицинская техника : науч.-техн. журнал. - 2019. - N 1. - С. 13-16 . - ISSN 0025-8075
Рубрики: Електронна мікроскопія--Експериментальні дослідження
фывфывфыв:
оперативное удлинение голени -- оперативне подовження гомілки -- инъекционные реплики кровеносных сосудов -- ін'єкційні репліки кровоносних судин -- ангиогенез

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ВСМЛ (1)
Свободны: ВСМЛ (1)

Найти похожие

30.

631.46
Д56

Добровольский, Глеб Всеволодович.
Растровая электронная микроскопия почв [] / Г. В. Добровольский, С. А. Шоба. - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1978. - 142 с. : рис., табл. - Прил.: с. 127-131. - Лит.: с. 132-142. - 1.80 р.

УДК

631.46

ББК 40.3
Рубрики: Грунтознавство--Наукові видання

фывфывфыв:
почвоведение -- микростроение вещества почв -- мікробудова речовини грунтів -- микроморфология почв -- мікроморфологія грунтів -- микроскопия процессов выветривания -- мікроскопія процесів вивітрювання -- процессы разложения растительных остатков -- процеси розкладення рослинних залишків -- микроморфология биогенных образований почв -- мікроморфологія біогенних утворювань грунтів
Аннотация: Микроморфологическое изучение почв при помощи растрового электронного микроскопа.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Шоба, Сергей Алексеевич
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

1-30 31-40

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)