Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: <.>K=тестове діагностування<.>
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
007:004
Г 94


    Гуляев, Василий Анатольевич.
    Техническая диагностика управляющих систем [] / В. А. Гуляев ; [отв. ред. В. В. Васильева] ; Акад. наук УССР, Ин-т проблем моделирования в энергетике. - К. : Наук. думка, 1983. - 208 с. : рис., табл. - Лит.: с. 202-205. - 7000.00 крб
УДК
ББК 32.817
Рубрики: Складні системи--Технічна діагностика--Наукові видання
   
фывфывфыв:
дедуктивное моделирование -- дедуктивне моделювання -- конкурентное моделирование -- конкурентне моделювання -- диагностические модели -- діагностичні моделі -- дискретные системы -- дискретні системи -- тестовое диагностирование -- тестове діагностування -- контролепригодные системы -- контролепридатні системи -- системы диагностирования -- системи діагностування -- подсистемы оперативного обнаружения ошибок -- підсистеми оперативного виявлення помилок -- подсистемы принятия решения -- підсистеми прийняття рішень
Аннотация: Теоретические и прикладные вопросы создания диагностического обеспечения сложных управляющих систем, построенных с использованием современных средств вычислительной техники - миниЭВМ, микропроцессоров и т. д.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Васильев, В. В. \ред.\; Академия наук Украинской ССРИнститут проблем моделирования в энергетике
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

2.
621.396.6
Б46


    Беннеттс, Роберт Дж..
    Проектировние тестопригодных логических схем [] = Design of testable logic circuits / Р. Дж. Беннеттс ; пер. с англ. Л. В. Дербуновича. - М. : Радио и связь, 1990. - 176 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168-176. - ISBN 5-256-00703-3 : 0.80 р.
УДК
ББК 32.844.1-02
Рубрики: Електронні схеми--Проектування--Практичні посібники
   
фывфывфыв:
тестовое диагностирование -- тестове діагностування -- анализ тестопригодности -- аналіз тестопригодності -- метод сканирования -- метод сканування -- генерация тестов -- генерація тестів -- принципы вычисления наблюдаемости -- принципи обчислення спостережливості -- логическое состояние узлов -- логічний стан вузлів -- сжатие тестов -- стиснення тестів
Аннотация: Количественные меры тестопригодности рассмотрены на примерах реальных устройств.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Дербунович, Л. В. \пер.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

3.
32.844
Д 13


    Давыдов, Павел Семенович.
    Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем [] / П. С. Давыдов. - Москва : Радио и связь , 1988. - 256 с. : рис., табл. - Прил.: с. 242-250. - Лит.: с. 251-254. - ISBN 5-256-00012-8 : 13000.00 крб
ББК 32.844
Рубрики: Радіоелектронна апаратура--Технічна діагностика--Наукові видання
   
фывфывфыв:
радиоэлектронная аппаратура -- показатели диагностирования -- показники діагностування -- встроенные средства диагностики -- вбудовані засоби діагностування -- неразрушающие методы диагностирования -- неруйнівні методи діагностування -- электрофизические методы диагностирования -- електрофізичні методи діагностування -- тепловые методы диагностирования -- теплові методи діагностування -- тестовое диагностирование -- тестове діагностування -- диагностирование микропроцессоров -- діагностування мікропроцесорів
Аннотация: Рассмотрены методы и средства технической диагностики радиоустройств и систем, принципы выбора параметров для определения их работоспособности.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)