Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Базы данных

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: <.>S=Інтегральні мікросхеми -- Контроль<.>

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

621.3.049.77
Б95

Быстров, Юрий Александрович.
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [] / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - М. : Радио и связь, 1988. - 168 с. : рис., табл. - Л-ра: с. 162-166. - ISBN 5-256-00006-3 : 0.65 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Практичні посібники

фывфывфыв:
визуальний метод контроля -- візуальний метод контролю -- фотоэлектрические методы контроля -- фотоелектричні методи контролю -- телевизионные методы контроля -- телевізійні методи контролю -- дифракционные методы контроля -- дифракційні методи контролю -- качество полупроводниковых пластин -- якість напівпровідникових пластин -- нанесение пленок -- нанесення плівак -- оптическая спектрометрия -- оптична спектрометрія
Аннотация: Методы и средства измерения линейных размеров, толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Александрович; Котлецов, Борис Николаевич
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Найти похожие

621.3.049.77
Ж59

Жердев, Николай Константинович.
Контроль устройств на интегральных схемах [] / Н. К. Жердев, Б. П. Креденцер, Р. Н. Белоконь ; под ред. Б. П. Креденцера. - К. : Техніка, 1986. - 160 с. : рис., табл. - Лит.: с. 154-158. - 0.65 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Практичні посібники

фывфывфыв:
отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- ремонт технических устройств -- ремонт технічних пристроїв -- диагностирование объектов контроля -- діагностування об'єктів контролю -- прогнозирование отказов объектов контроля -- прогнозування відмов об'єктів контролю -- эффективность методов контроля -- ефективність методів контролю
Аннотация: Подход к повышению качества диагностирующего и прогнозирующего контроля технических устройств на интегральных микросхемах.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Креденцер, Борис Петрович; Белоконь, Ренальд Никифорович; Креденцер, Б. П. \ред.\
Экземпляры всего: 3
ВВ (1), ФОНД (2)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (2)
Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)