Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: <.>S=Інтегральні мікросхеми -- Контроль -- Якість<.>
Общее количество найденных документов : 1
1.
621.396.6:621.3.049.77(075.8)
Г74


    Готра, Зенон Юрьевич.
    Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.
УДК
ББК 32.844.1я723
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання
   
фывфывфыв:
стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю
Аннотация: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Николаев , Игорь Моисеевич
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)