Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повний інформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>A=Дубовой, Николай Дмитриевич$<.>
Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2
1.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.317/Д 79
Автор(и) : Дубовой, Николай Дмитриевич
Назва : Автоматические многофункциональные измерительные преобразователи
Вихідні дані : М.: Радио и связь, 1989
Кільк.характеристики :256 с.: рис., табл.
Примітки : Лит.: с. 252-254
ISBN, Ціна 5-256-00296-1: 1.10 р.
УДК : 621.317
ББК : 32.842
Предметні рубрики: Датчики
Географіч. рубрики:
Анотація: Теория, принципы построения и методы инженерного расчета автоматических измерительных многофункциональных преобразователей.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

2.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.3.049.77/И37
Автор(и) : Дубовой, Николай Дмитриевич, Осокин, Вячеслав Иванович, Очков, Александр Сергеевич, Бочкова, Тамара Васильевна
Назва : Измерения и контроль в микроэлектронике : учеб. пособие
Вихідні дані : М.: Высш. шк., 1984
Кільк.характеристики :367 с.: рис., табл.
Примітки : Лит.: с. 363-364. - Авт. зазначено на звороті тит. арк.
Ціна : 1.00 р.
УДК : 621.3.049.77
ББК : 32.844.1я73
Предметні рубрики: Мікроелектроніка-- Інтегральні мікросхеми
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): измерение интегральных микросхем--вимірювання інтегральних мікросхем--контрольно-измерительные операции--контрольно-вимірювальні операції--параметры технологических схем--параметри технологічних схем--устройство программного управления--пристрій програмного управління--контроль цифровых микросхем--контроль цифрових мікросхем--контроль аналоговых микросхем--контроль аналогових мікросхем--контроль микропроцессоров--контроль мікропроцесорів--контроль статических параметров--контроль статичних параметрів--контроль динамических параметров--контроль динамічних параметрів--контроль компараторов напряжения--контроль компараторів напруги
Анотація: Основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при произвдстве интегральных микросхем.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)