Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Пошуковий запит: <.>K=випробування інтегральних мікросхем<.>

Загальна кількість знайдених документів : 1

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.396.6:621.3.0/Г74-841139
Автор(и) : Готра, Зенон Юрьевич, Николаев , Игорь Моисеевич
Назва : Контроль качества и надежность микросхем : учеб.
Вихідні дані : М.: Радио и связь, 1989
Кільк.характеристики :168 с.: рис., табл.
Примітки : Лит.: с. 168
ISBN, Ціна 5-256-00257-0: 0.35 р.
УДК : 621.396.6:621.3.049.77(075.8)
ББК : 32.844.1я723
Предметні рубрики: Інтегральні мікросхеми-- Контроль-- Якість
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): стандарты электронной промышленности--стандарти електронної промисловості--отказы интегральных микросхем--відмови інтегральних мікросхем--качество интегральных микросхем--якість інтегральних мікросхем--надежность интегральных микросхем--надійність інтегральних мікросхем--испытания интегральных микросхем--випробування інтегральних мікросхем--системы управления качеством--системи управління якістю
Анотація: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.
Примірники : всього : ВВ(1), ФОНД(1)
Вільні : ВВ(1), ФОНД(1)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)