Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

у знайденому

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Відсортувати знайдені документи за:
автором	назвою	роком видання	типом документа

Пошуковий запит: <.>K=микроскопия<.>

Загальна кількість знайдених документів : 27
Показані документи с 1 за 20

1-20 21-27

669.017
П75

Приборы и методы физического металловедения [Текст] = Tools and technigues in physical metallurgy : в 2 ч. / пер с англ. ; под ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - 1974.
Вып. 2 / [предисл. В. Н. Колесникова]. - 1974. - 364, [2] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - 1.70 р.

УДК

669.017

ББК 34.204.13
Рубрики: Металознавство--Наукові видання

Кл.слова (ненормовані):
электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- автономная микроскопия -- автономна мікроскопія -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- термоелектронна емісійна мікроскопія -- рентгеноспектральный микроанализ -- рентгеноспектральний мікроаналіз -- эмиссионный спектральный анализ -- емісійний спектральний аналіз
Анотація: В книгу включены обзорные статьи, посвященные различным видам микроскопии, рентгеноспектральному микроанализу, атомной абсорбционной спектрографии.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Вейнберг, Ф. \ред.\; Колесников, В. Н. \авт. предисл.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

631.46
Д56

Добровольский, Глеб Всеволодович.
Растровая электронная микроскопия почв [] / Г. В. Добровольский, С. А. Шоба. - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1978. - 142 с. : рис., табл. - Прил.: с. 127-131. - Лит.: с. 132-142. - 1.80 р.

УДК

631.46

ББК 40.3
Рубрики: Грунтознавство--Наукові видання

Кл.слова (ненормовані):
почвоведение -- микростроение вещества почв -- мікробудова речовини грунтів -- микроморфология почв -- мікроморфологія грунтів -- микроскопия процессов выветривания -- мікроскопія процесів вивітрювання -- процессы разложения растительных остатков -- процеси розкладення рослинних залишків -- микроморфология биогенных образований почв -- мікроморфологія біогенних утворювань грунтів
Анотація: Микроморфологическое изучение почв при помощи растрового электронного микроскопа.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Шоба, Сергей Алексеевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

620.18(075.8)
Б90

Бублик, Владимир Тимофеевич.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов [] : учеб. пособие для вузов / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : рис., табл. - Лит.: с. 271. - Предм. указ.: с. 272. - 0.95 р.

УДК

620.18(075.8)

ББК 34.204
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи
Напівпровідники--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
световые микроскопы -- світлові мікроскопи -- амплитудный контраст -- амплітудний контраст -- фазовый контраст -- фазовий контраст -- дифракция -- дифракція -- динамическая теория рассеяния -- динамічна теорія розсіювання -- рентгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- исследование поликристаллов -- дослідження полікристалів -- исследование структуры кристаллов -- дослідження структури кристалів -- электронограммы -- електронограми -- нейтронография -- нейтронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- эпитаксальные пленки -- епітаксальні плівки
Анотація: Изложена теория основных методов исследования структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов, металлических материалов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Дубровина, Анна-Аида Николаевна
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

24.1
П 69

Практикум по общей химии [] : учеб. пособие / под ред.: Е. М. Соколовской, О. С. Зайцева. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1981. - 400 с. : рис., табл. - Лит.: с. 397-398. - 1.60 р.

ББК 24.1
Рубрики: Загальна хімія--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
научный эксперимент -- науковий експеримент -- химическая лаборатория -- хімічна лабораторія -- электрические нагревательные приборы -- електричні нагрівальні прилади -- центрифуги -- мерная посуда -- мірний посуд -- дистиллированная вода -- дистильована вода -- микроскопия -- мікроскопія -- термометры -- термометри -- методы очистки веществ -- методи очищення речовин -- химический эквивалент -- хімічний еквівалент -- химические реакции -- хімічні реакції -- буферные растворы -- буферні розчини -- гидролиз солей -- гідроліз солей -- коллоидные растворы -- колоїдні розчини -- комплексные соединения -- комплексні сполуки -- галогены -- галогени -- сполуки елементів -- соединения элементов
Анотація: Экспериментальные задания по основным законам химии, общим закономерностям химических реакций, химии элементов, качественному анализу.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Соколовская, Е. М. \ред.\; Зайцев, О. С. \ред.\
Примірників всього: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Знайти схожі

631.41(075)
Х-65

Хмельницкий, Рюрик Аркадьевич.
Современные методы исследования агрономических объектов [] : учеб. пособие для студ. вузов / Р. А. Хмельницкий. - М. : Высшая школа, 1981. - 256 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 252-253. - 0.90 р.

УДК

631.41(075)

ББК 40.4я73 + 40.1я73
Рубрики: Агрономія--Навчальні видання для вищої школи --Агрофізика--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
термічний аналіз -- термический анализ -- рентгеноструктурний аналіз -- рентгеноструктурный анализ -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- інфрачервона спектроскопія -- инфракрасная спектроскопия -- хроматографія -- хроматография -- органічна мас-спектрометрія -- органическая масс-спектрометрия
Анотація: Инструментальные методы анализа и применение их для исследования различных агрономических и агрохимических объектов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

159.9
Л86

Адрианов , О. С.
О принципах организации церебральных функций [] : сборник / О. С. Адрианов // А. Р. Лурия и современная психология : (сборник статей памяти А. Р. Лурия) / под ред. Е. Д. Хомской, Л. С. Цветковой, Б. В. Зейгарник. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1982. - С. 72-81

УДК

159.9

ББК 88.1(2)
Рубрики:
Кл.слова (ненормовані):
церебральные функции -- церебральні функції -- прнципы организации -- принципи організації -- динамическая локализация функций -- динамічна локалізація функцій -- конструкции центральной нервной системы -- конструкції центральної нервової системи -- морфофизиологические исследования мозга -- морфофізіологічні дослідження мозку -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- цитохимия -- цитохімія -- авторадіография -- авторадіографія -- принципы структурной упорядоченности в организации мозга -- принципи структурної упорядкованості в організації мозку -- механизмы системной деятельности мозга -- механізми системної діяльності мозку
Анотація: А. Р. Лурия заложил основы нейропсихологии - нового направления психологии, давшего мощный импульс для развития представлений о системной локализации мозговых функций.

Дод.точки доступу:
Хомская, Е. Д. \ред.\; Цветкова, Л. С. \ред.\; Зейгарник, Б. В. \ред.\

Є примірники у відділах: всього 2 : ЧЗ (1), АБ (1)
Вільні: ЧЗ (1), АБ (1)

Знайти схожі

669.017.16
Б25

   Баррет, Ч. С.
    Структура металлов [Текст] = Strukture of metals : [в 2 ч.] / Ч. С. Баррет, Т. Б. Массальский ; пер. с англ. А. М. Бернштейна, С. В. Добаткина ; под ред. М. Л. Бернштейна. - М. : Металлургия, 1984.
   Ч. 2. - 1984. - С. 355-686 : рис., табл. - Прил.: с. 605-624. - Лит.: с. 625-680. - Предм. указ.: с. 681-686. - 3.20 р.
Наскрізна нумерація с.

УДК

669.017.16

ББК 34.204
Рубрики: Метали--Структура--Наукові видання

Кл.слова (ненормовані):
теории металлических фаз -- теорії металічних фаз -- атомные размеры -- атомні розміри -- дефекты кристаллов -- дефекти кристалів -- рентгеновские методы -- рентгенівські методи -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- фазовые превращения -- фазові перетворення -- полиморфные превращения -- поліморфні перетворення -- мартенситные превращения -- мартенситні перетворення -- холодная деформация -- холодна деформація -- текстуры отжига -- текстура відпалу -- дифракция электронов -- дифракція електронів -- дифракция нейтронов -- дифракція нейтронів -- магнитные структуры металлов -- магнітні структури металів
Анотація: Рассмотрены природа основных структур, дефекты в кристаллах и методы их исследования, превращение одной кристаллической структуры в другую.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Массальский, Т. Б.; Бернштейн, А. М. \пер.\; Добаткин, С. В. \пер.\; Бернштейн, Марк Львович \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

669.017:620.187(03)
Э45

Электронная микроскопия в металловедении [] : справочник / [А. В. Смирнова и др.] ; под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 192 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с.184-187. - Прил.: с. 188-190. - Предм. указ.: с. 191. - 1.10 р.

УДК

669.017:620.187(03)

ББК 34.2
Рубрики: Металознавство--Електронна мікроскопія--Довідкові видання

Кл.слова (ненормовані):
метод реплик -- метод реплік -- метод фольг -- электронная фрактография -- електронна фрактографія -- микродифракционный анализ -- мікродифракційний аналіз -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- микрофрактограммы -- мікрофрактограми
Анотація: Обобщены и систематизированы данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях сталей и сплавов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Смирнова, Анна Владимировна; Кокорин, Глеб Александрович; Полонская, Софья Марковна; Яровой, В. В.; Смирнова, Анна Владимировна \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

621.3.049.77
Б88

Броудай, Ивор.
Физические основы микротехнологии [] = The Physics of Microfabrication / И. Броудай, Дж. Мерей ; пер. с англ.: В. А. Володина, В. С. Першенкова, Б. И. Подлепецкого; под ред. А. В. Шальнова. - М. : Мир, 1985. - 496 с. : рис., табл. - Прил.: с. 460-664. - Лит.: с. 465-483. - Предм. указ.: с. 484-492. - 2.60 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Мікросхемотехніка--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
микроэлектронные приборы -- мікроелектронні прилади -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- литографические методы -- літографічні методи -- пучки частиц -- пучки частин -- изготовление микросхем -- виготовлення мікросхем -- микроскопия -- мікроскопія -- микрозонды -- мікрозонди -- лазерное сканирование -- лазерне сканування -- легироание -- легування
Анотація: Технологические процессы микроэлектроники, включая субмикронную литографию, сухое травление, лазерный и электронно-лучевой отжиг.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Мерей, Джулиус; Володин, В. А. \пер.\; Першенков, В. С. \пер.\; Подлепецкий, Б. И. \пер.\; Шальнов, А. В. \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

10.

621.317:621.315.5
Б 28

Батавин, Виталий Васильевич.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [] / В. В. Батавин, Ю. И. Концевой, Ю. В. Федорович ; [редкол.: А. Г. Алексеенко и др.]. - М. : Радио и связь, 1985. - 264 с. : рис., табл. - (Измерения в электронике). - Лит.: с. 251-262. - 1.10 р.

УДК

621.317:621.315.5

ББК 32.843.3
Рубрики: Матеріали--Напівпровідникові--Вимірювання--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
чотиризондовий метод -- четырехзондовый метод -- двозондовий метод -- двухзондовый метод -- неоднорідність питомого опору -- неоднородность удельного сопротивления -- опір епітаксиальних шарів -- сопротивление эпитаксиальных слоев -- ефект Хола -- эффект Холла -- геометричний магнітний опір -- геометрическое магнитное сопротивление -- спектри поглинання -- спектры поглощения -- спектри відображення -- спектры отображения -- дифузні шари -- диффузные слои -- інфрачервона інтерференція -- инфракрасная интерференция -- інфрачервана фур'є-спектромія -- инфракрасная фурье-спектромия -- метод покраски шліфу -- метод окрашивания шлифа -- контроль параметрів неосновних носіїв заряду -- контроль параметров неосновных носителей заряда -- дифузна довжина -- диффузная длина -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- ионная масс-спектроскопия -- іонна мас-спектроскопія -- электронная оже-спектроскопия -- електронна oже-спектроскопія -- электронно-зондовый рентгеновский микроанализ -- електронно-зондовий рентгенівський мікроаналіз
Анотація: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович; Алексеенко, А. Г. \ред.\; Валитов, Р. А. \ред.\; Васильченко, Н. В. \ред.\; Дубовицкий, Л. Г. \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

11.

621.315.592
С 51

Смородина, Татьяна Александровна.
Вхождение примесных центров в кристаллический слой полупроводника [] : (процессы образования монокристаллических слоев для микроэлектроники) / Т. А. Смородина, Н. Н. Шефталь, А. П. Цуранов ; отв. ред. И. А. Смирнов ; Акад. наук CССР, Физико-технич. ин-т, Ин-т кристаллографии . - Л. : Наука, Ленингр. отд-ние, 1986. - 176 с. : рис., табл. - Лит.: с. 161-171. - 1.60 р.

УДК

621.315.592

ББК 32.843.3
Рубрики: Напівпровідники--Кристалографія--Наукові видання

Кл.слова (ненормовані):
оптическая микроскопия -- оптична мікроскопія -- аномальное прохождение рентгеновских лучей -- аномальний прохід рентгенівських променів -- фотоупругость -- фотопружність -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральний аналіз -- автоэлектронная микроскопия -- автоелектронна мікроскопія -- кристаллография материалов -- кристалографія матеріалів -- дефекты кристаллической структуры -- дефекти кристалічної структури -- нестехиометрия -- нестехіометрія -- изоморфизм -- ізоморфізм -- чужеродные атомы -- сторонні атоми -- двумерные несовершенства решетки -- двомірні недосконалості решітки -- кристаллические примесные комплексы -- кристалічні домішкові комплекси -- поверхностная сегрегация -- поверхнева сегрегація -- термодинамика сегрегации -- термодинаміка сегрегації -- выращивание кристаллов -- вирощування кристалів
Анотація: Рассмотрена связь условий вхождения примеси в растущий слой полупроводника с микро- и макроморфологией возникающей в нем дефектов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Шефталь, Николай Наумович; Цуранов, Александр Павлович; Смирнов, И. А. \ред.\; Академия наук CССР; Ордена Ленина физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе; Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

12.

669.017
Ф50

Физическое металловедение [Текст] = Physical metallurgy : в 3 т. / под ред.: Р. У. Кана, П. Хаазена. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1987.
Т. 1 : Атомное строение металлов и сплавов / пер. с англ. под ред.: О. В. Абрамова, Ч. В. Копецкого, А. В. Серебрякова. - 1987. - 640 с. : рис., табл. - Лит.: с. 594-624. - Предм. указ.: с. 625-631. - 6.40 р.

УДК

669.017

ББК 34.2
Рубрики: Металознавство--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
оптическая микроскопия -- оптична мікроскопія -- сканирующая электронная микроскопия -- скануюча електронна мікроскопія -- полевая электронная микроскопия -- польова електронная мікроскопія -- микроструктура металлов -- мікроструктура металів -- эволюция микроструктуры -- еволюція мікроструктури -- теория дифракционного контраста -- теорія дифракційного контрасту -- структура границ зерен -- структура меж зерен -- аналитическая электронная микроскопия -- аналітична електронна мікроструктура -- рассеяние рентгеновских лучей -- розсіювання рентгенівських променів -- термодинамика адсорбции -- термодинаміка адсорбції -- сегрегация -- сегрегація -- структура чистых металлов -- структура чистих металів -- структура твердых растворов -- структура твердих розчинів -- структура интерметаллических соединений -- структура інтерметалічних з'єднань -- сверхпроводящие материалы -- надпровідні матеріали
Анотація: Изложены физические основы теории металлического состояния, электронная и кристаллическая структуры металлов, твердых растворов и интерметаллических соединений.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Кан, Роберт У. \ред.\; Хаазен, Петер \ред.\; Абрамов, О. В. \пер., ред.\; Копецкий, Ч. В. \пер., ред.\; Серебряков, А. В. \пер., ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

13.

28.4я73
Т34

Теппер, Екатерина Зельмановна.
Практикум по микробиологии [] : учеб. пособие для студентов высш. учеб. заведений, обучающихся по агроном. специальностям / Е. З. Теппер, В. А. Шильникова, Г. И. Переверзева. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Агропромиздат, 1987. - 239 с. : ил. - (Учебники и учебные пособия для высших учебных заведений). - Лит.: с. 232-233. - 0.45 р.

ББК 28.4я73
Рубрики: Мікробіологія--Практичні заняття--Навчальні видання для вищої школи
Сільськогогосподарська мікробіологія--Практичні заняття--Навчальні видання для вищої школи
Кл.слова (ненормовані):
микробиология -- мікробіологія -- микроорганизмы -- мікроорганізми -- бактерии -- бактерії -- грибы -- гриби -- микроскопия -- мікроскопія -- сельскохозяйственная микробиология -- сільськогосподарська мікробіологія -- ризосферные микробиоценозы -- ризосферні мікробіоценози
Анотація: Показаны методики исследования различных микроорганизмов. Приведены способы приготовления и стерилизации питательной среды, качественного и количественного учета грибов и бактерий на разнообразных субстратах.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Шильникова, Викторина Кузьминична; Переверзева, Генриетта Ивановна
Примірників всього: 2
ЧЗ (1), ВВ (1)
Свободны: ЧЗ (1), ВВ (1)
Знайти схожі

14.

539.1
К36

Кесслер, Иоахим.
Поляризованные электроны [] = Polarized Electrons / И. Кесслер ; пер.с англ.: Н. М. Кабачника, Ю. А. Мамаева. - М. : Мир, 1988. - 368 с. : рис., табл. - Лит.: с. 351-361. - Предм. указ.: с. 362-364. - ISBN 5-03-001112-9 : 3.90 р.

УДК

539.1

ББК 22.38
Рубрики: Ядерна фізика--Елементарні частинки--Наукові видання

Кл.слова (ненормовані):
поляризационные эффекты -- поляризаційні ефекти -- фотоионизация -- фотоіонізація -- многофотонная ионизация -- багатофотонна іонізація -- тормозное излучение -- гальмівне випромінювання -- синхротронное излучение -- синхротронне випромінювання -- фотоэмиссия -- фотоемісія -- автоэлектронная эмиссия -- автоелектронна емісія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія
Анотація: Получение пучков поляризованных электронов и их использование в атомной физике, физике твердого тела и физике поверхностей.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Кабачник, Н. М. \пер.\; Мамаев, Ю. А. \пер.\
Примірників всього: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Знайти схожі

15.

548.53(075)
Б 90

Бублик, Владимир Тимофеевич.
Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" [] : учеб. пособие / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Высш. шк., 1988. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 169-190. - Лит.: с. 191. - ISBN 5-06-001309-X : 0.50 р.

УДК

548.53(075)

ББК 22.37я73
Рубрики: Тверді тіла--Фізика--Задачі (навч.)--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
структурный анализ -- структурний аналіз -- кристаллические решётки -- кристалічні решітки -- коротковолновые излучения -- короткохвильові випромінювання -- рентгеновские лучи -- рентгенівські промені -- ряды Фурье -- ряди Фур'є -- кинематическое рассеяние -- кінематичне розсіювання -- динамическое рассеяние -- динамічне розсіювання -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- электронография -- електронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- диэлектрики -- діелектрики -- полупроводники -- напівпровідники
Анотація: Содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Дубровина, А. Н.
Примірників всього: 2
ФОНД (2)
Свободны: ФОНД (2)
Знайти схожі

16.

669.018.056
К56

Ковалев, Анатолий Иванович.
Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.

УДК

669.018.056

17.

547.96
П 69

Практическая химия белка [] = Practical Protein Chemistry / [Р. Маршелл и др.] ; ред. А. Дарбре ; пер. с англ.: Н. А. Алдановой, И. В Назимова, П. Д. Решетова. - М. : Мир, 1989. - 621 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 605-611. - ISBN 5-03-001031-9 : 6.60 р.

УДК

547.96

ББК 24.239
Рубрики: Білки (хім.)--Органічна хімія--Навчальні видання
Кл.слова (ненормовані):
биоорганическая химия -- біоорганічна хімія -- полипептиды -- поліпептиди -- дисульфидные связи -- дисульфідні зв'язки -- хроматография белков -- хроматографія білків -- аналитические методы -- аналітичні методи -- структура белков -- структура білків -- аминокислотная последовательность -- амінокислотна послідовність -- рентгеновская кристаллография -- рентгенівська кристалографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія
Анотація: Методические разработки в исследованиях первичной структуры белков, а также традиционные методы, широко используемые в исследовательской практике.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Маршелл, Роберт; Инглис, Адам; Фонтана, Анджело; Дарбре, Андре \ред.\; Алданова, Н. А. \пер.\; Назимов, И. В. \пер.\; Решетов, П. Д. \пер.\
Примірників всього: 2
ФОНД (1), ЧЗ (1)
Свободны: ФОНД (1), ЧЗ (1)
Знайти схожі

18.

22.32я73
К15

Кайно, Гордон.
Акустические волны [] = Acoustic waves. Devices, imaging, and analog signal processing : устройства, визуализация и аналоговая обработка сигналов / Г. Кайно ; пер. с англ.: С. Н. Карпачева, В. Г. Можаева, И. Ю. Солодова ; под ред. О. В. Руденко. - Москва : Мир, 1990. - 656 с. : ил. - Библиогр. в конце разд. - Прил.: с. 591-645. - Предм. указ.: с. 646-649. - ISBN 5-03-001434-9 : 12.00 грн

ББК 22.32я73
Рубрики: Фізика--Звукові хвилі--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
акустоелектроніка -- акустоэлектроника -- ультразвукова томографія -- ультразвуковая томография -- акустична мікроскопія -- акустическая микроскопия -- основи акустики -- основы акустики
Анотація: В книге отражен современный уровень научных исследований в области акустоэлектроники, физики и техники неразрушающегося контроля, ультразвуковой томографии, акустической микроскопии и т. д.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Карпачев, С. Н. \пер.\; Можаев, В. Г. \пер.\; Солодов, И. Ю. \пер.\; Руденко, О. В. \ред.\
Примірників всього: 1
ЧЗ (1)
Свободны: ЧЗ (1)
Знайти схожі

19.

687.03(076)
Л12

Лабораторный практикум по материаловедению швейного производства [] : учеб. пособие для вузов / [Б. А. Бузов и др.] ; под ред. Б. А. Бузова. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : Легпромбытиздат, 1991. - 430, [2] с. : рис., табл. - Авт. указ. на оборот. тит. л. - Лит.: с. 428. - ISBN 5-7088-0047-X : 1.60 р.

УДК

687.03(076)

20.

539.21(075)
С 87

Структура і фізичні властивості твердого тіла: лабораторний практикум [] : навч. посібник / О. Г. Алавердова [та ін.] ; за ред. Палатника Л. С. - К. : Вища школа, 1992. - 311 с. : рис., табл. - Л-ра: с. 305-308. - ISBN 5-11-003703-5 : 15.00 крб

УДК

539.21(075)

ББК 22.371.2я73
Рубрики: Тверді тіла--Фізичні властивості--Навчальні видання для вищої школи
Тверді тіла--Структура--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
тверді тіла -- твёрдые тела -- фізичні властивості -- физические свойства -- рентгенографія металів -- рентгенография металлов -- електронографія -- электронография -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- електричні властивості -- электрические свойства -- термоелектричні властивості -- термоэлектрические свойства -- теплові властивості -- тепловые свойства -- магнітні властивості -- магнитные свойства -- механічні властивості -- механические свойства -- спектральний аналіз -- спектральный анализ -- мас-спектрометрія -- мас-спектрометрия -- дефектоскопія -- дефектоскопия
Анотація: Подано лабораторні роботи з тем спецкурсів "Рентгенографія металів", "Електронографія", "Електронна мікроскопія", "Фізичні методи дослідження металів і сплавів", "Вчення про міцність" та ін. Описано роботу на новітньому обладнанні.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Алавердова, О. Г.; Аринкін, О. В.; Богданова, О. Ф.; Бойко, Б. Т.; Палатник Л. С. \ред.\
Примірників всього: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Знайти схожі

1-20 21-27

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)