Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційний короткий
Пошуковий запит: <.>K=надежность микроэлектроники<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.

Глудкин О. П. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем/О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - 1980
 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)