Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Пошуковий запит: <.>K=нейтронное излучение<.>

Загальна кількість знайдених документів : 1

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.396.6:621.3.0/Г55-505561
Автор(и) : Глудкин, Олег Павлович, Черняев, Владимир Николаевич
Назва : Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учеб. пособие для вузов
Вихідні дані : М.: Энергия, 1980
Кільк.характеристики :360 с.: рис., табл.
Примітки : Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357
Ціна : 1.00 р.
УДК : 621.396.6:621.3.049.77
ББК : 32.844.1
Предметні рубрики: Мікроелектроніка-- Інтегральні мікросхеми-- Випробування
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): надежность микроэлектроники--надійність мікроелектроніки--параметры интегральных схем--параметри інтегральних схем--контроль интегральных схем--контроль інтегральних схем--испытания интегральных схем--випробування інтегральних схем--обработка экспериментальных данных--обробка експериментальних даних--методы прогнозирования--методи прогнозування--радиационная стойкость--радіаційна стійкість--математическое ожидание--математичне очікування--точность измерительных средств--точність вимірюваних засобів--нейтронное излучение--нейтронне випромінювання
Анотація: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)