Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повний інформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>K=растровая электронная микроскопия<.>
Загальна кількість знайдених документів : 4
Показані документи с 1 за 4
1.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 621.317:621.315.5/Б 28
Автор(и) : Батавин, Виталий Васильевич, Концевой, Юлий Абрамович, Федорович, Юрий Вячеславович
Назва : Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Вихідні дані : М.: Радио и связь, 1985
Кільк.характеристики :264 с.: рис., табл.
Серія: Измерения в электронике
Примітки : Лит.: с. 251-262
Ціна : 1.10 р.
УДК : 621.317:621.315.5
ББК : 32.843.3
Предметні рубрики: Матеріали-- Напівпровідникові-- Вимірювання
Географіч. рубрики:
Анотація: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

2.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 669.018.056/К56
Автор(и) : Ковалев, Анатолий Иванович, Щербединский, Геннадий Васильевич
Назва : Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов
Вихідні дані : М.: Металлургия, 1989
Кільк.характеристики :192 с.: рис., табл.
Примітки : Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191
ISBN, Ціна 5-229-00444-4: 2.40 р.
УДК : 669.018.056
ББК : 34.202.01
Предметні рубрики: Метали-- Структура-- Дослідженння
Сплави-- Структура-- Дослідженння
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): растровая электронная микроскопия--растрова електронна мікроскопія--рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия--рентгенівська фотоелектронна спектроскопія--спектроскопия оже-электронов--спектроскопія оже-електронів--спектроскопия потерь энергии электронов--спектроскопія втрат енергії електронів--масс-спектроскопия вторичных ионов--мас-спектроскопія вторинних іонів--спектроскопия ионов рассеивания--спектроскопія іонів розсіювання--лазерный микрозондовый анализ--лазерний мікрозондовий аналіз
Анотація: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

3.

Форма документа : Однотомне видання
Шифр видання : 669.017:620.187(0/Э45-268036
Автор(и) : Смирнова, Анна Владимировна, Кокорин, Глеб Александрович, Полонская, Софья Марковна, Яровой В. В.
Назва : Электронная микроскопия в металловедении : справочник
Вихідні дані : М.: Металлургия, 1985
Кільк.характеристики :192 с.: рис., табл.
Примітки : Лит.: с.184-187. - Прил.: с. 188-190. - Предм. указ.: с. 191. - Авт. зазначено на звороті тит. арк.
Ціна : 1.10 р.
УДК : 669.017:620.187(03)
ББК : 34.2
Предметні рубрики: Металознавство-- Електронна мікроскопія
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): метод реплик--метод реплік--метод фольг--электронная фрактография--електронна фрактографія--микродифракционный анализ--мікродифракційний аналіз--растровая электронная микроскопия--растрова електронна мікроскопія--микрофрактограммы--мікрофрактограми
Анотація: Обобщены и систематизированы данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях сталей и сплавов.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

4.

Форма документа : Багатотомне видання
Шифр видання : 669.017/П75
Автор(и) :
Назва : Приборы и методы физического металловедения = Tools and technigues in physical metallurgy: в 2 ч./ пер с англ. ; под ред. Ф. Вейнберга. Вып. 2
Вихідні дані : М.: Мир, 1974
Кільк.характеристики :364, [2] с.: рис., табл.
Примітки : Библиогр. в конце глав
Ціна : 1.70 р.
УДК : 669.017
ББК : 34.204.13
Предметні рубрики: Металознавство
Географіч. рубрики:
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): электронная микроскопия--електронна мікроскопія--растровая электронная микроскопия--растрова електронна мікроскопія--автономная микроскопия--автономна мікроскопія--термоэлектронная эмиссионная микроскопия--термоелектронна емісійна мікроскопія--рентгеноспектральный микроанализ--рентгеноспектральний мікроаналіз--эмиссионный спектральный анализ--емісійний спектральний аналіз
Анотація: В книгу включены обзорные статьи, посвященные различным видам микроскопии, рентгеноспектральному микроанализу, атомной абсорбционной спектрографии.
Примірники :ВВ(1)
Вільні : ВВ(1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)