Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>K=контроль статичних параметрів<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.
621.3.049.77
И37


   
    Измерения и контроль в микроэлектронике [] : учеб. пособие / [Н. Д. Дубовой и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высш. шк., 1984. - 367 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с. 363-364. - 1.00 р.
УДК
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи
   
Кл.слова (ненормовані):
измерение интегральных микросхем -- вимірювання інтегральних мікросхем -- контрольно-измерительные операции -- контрольно-вимірювальні операції -- параметры технологических схем -- параметри технологічних схем -- устройство программного управления -- пристрій програмного управління -- контроль цифровых микросхем -- контроль цифрових мікросхем -- контроль аналоговых микросхем -- контроль аналогових мікросхем -- контроль микропроцессоров -- контроль мікропроцесорів -- контроль статических параметров -- контроль статичних параметрів -- контроль динамических параметров -- контроль динамічних параметрів -- контроль компараторов напряжения -- контроль компараторів напруги
Анотація: Основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при произвдстве интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Дубовой, Николай Дмитриевич; Осокин, Вячеслав Иванович; Очков, Александр Сергеевич; Бочкова, Тамара Васильевна; Сазонов, А. А. \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)