Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>K=мас-спектроскопія вторинних іонів<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.
669.018.056
К56


    Ковалев, Анатолий Иванович.
    Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.
УДК
ББК 34.202.01
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Наукові видання
   Сплави--Структура--Дослідженння--Наукові видання

   
Кл.слова (ненормовані):
растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгенівська фотоелектронна спектроскопія -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопія оже-електронів -- спектроскопия потерь энергии электронов -- спектроскопія втрат енергії електронів -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- мас-спектроскопія вторинних іонів -- спектроскопия ионов рассеивания -- спектроскопія іонів розсіювання -- лазерный микрозондовый анализ -- лазерний мікрозондовий аналіз
Анотація: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Щербединский, Геннадий Васильевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)