Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>K=сжатие тестов<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.
621.396.6
Б46


    Беннеттс, Роберт Дж..
    Проектировние тестопригодных логических схем [] = Design of testable logic circuits / Р. Дж. Беннеттс ; пер. с англ. Л. В. Дербуновича. - М. : Радио и связь, 1990. - 176 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168-176. - ISBN 5-256-00703-3 : 0.80 р.
УДК
ББК 32.844.1-02
Рубрики: Електронні схеми--Проектування--Практичні посібники
   
Кл.слова (ненормовані):
тестовое диагностирование -- тестове діагностування -- анализ тестопригодности -- аналіз тестопригодності -- метод сканирования -- метод сканування -- генерация тестов -- генерація тестів -- принципы вычисления наблюдаемости -- принципи обчислення спостережливості -- логическое состояние узлов -- логічний стан вузлів -- сжатие тестов -- стиснення тестів
Анотація: Количественные меры тестопригодности рассмотрены на примерах реальных устройств.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Дербунович, Л. В. \пер.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)