Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

у знайденому

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Пошуковий запит: <.>K=двухзондовый метод<.>

Загальна кількість знайдених документів : 1

621.317:621.315.5
Б 28

Батавин, Виталий Васильевич.
Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [] / В. В. Батавин, Ю. И. Концевой, Ю. В. Федорович ; [редкол.: А. Г. Алексеенко и др.]. - М. : Радио и связь, 1985. - 264 с. : рис., табл. - (Измерения в электронике). - Лит.: с. 251-262. - 1.10 р.

УДК

621.317:621.315.5

ББК 32.843.3
Рубрики: Матеріали--Напівпровідникові--Вимірювання--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
чотиризондовий метод -- четырехзондовый метод -- двозондовий метод -- двухзондовый метод -- неоднорідність питомого опору -- неоднородность удельного сопротивления -- опір епітаксиальних шарів -- сопротивление эпитаксиальных слоев -- ефект Хола -- эффект Холла -- геометричний магнітний опір -- геометрическое магнитное сопротивление -- спектри поглинання -- спектры поглощения -- спектри відображення -- спектры отображения -- дифузні шари -- диффузные слои -- інфрачервона інтерференція -- инфракрасная интерференция -- інфрачервана фур'є-спектромія -- инфракрасная фурье-спектромия -- метод покраски шліфу -- метод окрашивания шлифа -- контроль параметрів неосновних носіїв заряду -- контроль параметров неосновных носителей заряда -- дифузна довжина -- диффузная длина -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- ионная масс-спектроскопия -- іонна мас-спектроскопія -- электронная оже-спектроскопия -- електронна oже-спектроскопія -- электронно-зондовый рентгеновский микроанализ -- електронно-зондовий рентгенівський мікроаналіз
Анотація: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович; Алексеенко, А. Г. \ред.\; Валитов, Р. А. \ред.\; Васильченко, Н. В. \ред.\; Дубовицкий, Л. Г. \ред.\
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)