Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

у знайденому

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Відсортувати знайдені документи за:
автором	назвою	роком видання	типом документа

Пошуковий запит: <.>K=відмови інтегральних мікросхем<.>

Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2

621.396.6:621.3.049.77(075.8)
Г74

Готра, Зенон Юрьевич.
Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.

УДК

621.396.6:621.3.049.77(075.8)

ББК 32.844.1я723
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання

Кл.слова (ненормовані):
стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю
Анотація: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Николаев , Игорь Моисеевич
Примірників всього: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Знайти схожі

621.3.049.77
Ж59

Жердев, Николай Константинович.
Контроль устройств на интегральных схемах [] / Н. К. Жердев, Б. П. Креденцер, Р. Н. Белоконь ; под ред. Б. П. Креденцера. - К. : Техніка, 1986. - 160 с. : рис., табл. - Лит.: с. 154-158. - 0.65 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- ремонт технических устройств -- ремонт технічних пристроїв -- диагностирование объектов контроля -- діагностування об'єктів контролю -- прогнозирование отказов объектов контроля -- прогнозування відмов об'єктів контролю -- эффективность методов контроля -- ефективність методів контролю
Анотація: Подход к повышению качества диагностирующего и прогнозирующего контроля технических устройств на интегральных микросхемах.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Креденцер, Борис Петрович; Белоконь, Ренальд Никифорович; Креденцер, Б. П. \ред.\
Примірників всього: 3
ВВ (1), ФОНД (2)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (2)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)