Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку
Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Андрушівська ЦРБ
Баранівська ЦРБ
Бердичівська МЦБС
Бердичівська ЦРБ
Житомирська МЦБС
Житомирська ЦРБ
Коростенська МЦБС
Коростенська ЦРБ
Народицька ЦРБ
Звягельська бібліотека ЗМР
Малинська ЦРБ
Овруцька ЦРБ
Олевська ЦРБ
Радомишльська ЦРБ
Зона пошуку
у знайденому
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>K=надійність інтегральних мікросхем<.>
Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2
1.
621.3.049.77(075)
Б81

    Бондарь, Борис Георгиевич.
    Основы микроэлектроники [] : учеб. пособие / Б. Г. Бондарь. - К. : Вища шк., 1987. - 309 с. : рис., табл. - Л-ра: с.305-307. - Предм. указ.: с. 308-309. - 0.95 р.
УДК
621.3.049.77(075)
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Проектування--Навчальні видання для вищої школи
   
Кл.слова (ненормовані):
физика полупроводников -- фізика напівпровідників -- проектирование интегральных микросхем -- проектування інтегральних мікросхем -- изготовление интегральных микросхем -- виготовлення інтегральних мікросхем -- цифровые интегральные микросхемы -- цифрові інтегральні мікросхеми -- компоненты интегральных микросхем -- компоненти інтегральних мікросхем -- аналоговые интегральные микросхемы -- аналогові інтегральні мікросхеми -- функциональная микроэлектроника -- функціональна мікроелектроніка -- применение интегральных микросхем -- застосування інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем
Анотація: Функции, структуры и электрические параметры элементов и компонентов интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Примірників всього: 3
ВВ (2), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (2), ФОНД (1)
Знайти схожі
2.
621.396.6:621.3.049.77(075.8)
Г74

    Готра, Зенон Юрьевич.
    Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.
УДК
621.396.6:621.3.049.77(075.8)
ББК 32.844.1я723
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання
   
Кл.слова (ненормовані):
стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю
Анотація: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Николаев , Игорь Моисеевич
Примірників всього: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Знайти схожі
 
Стандартний
Розширений
Професійний
За словником
УДК-навігатор
ББК-навігатор
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)