Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

у знайденому

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Відсортувати знайдені документи за:
автором	назвою	роком видання	типом документа

Пошуковий запит: <.>S=Інтегральні мікросхеми -- Контроль<.>

Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2

621.3.049.77
Б95

Быстров, Юрий Александрович.
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [] / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - М. : Радио и связь, 1988. - 168 с. : рис., табл. - Л-ра: с. 162-166. - ISBN 5-256-00006-3 : 0.65 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
визуальний метод контроля -- візуальний метод контролю -- фотоэлектрические методы контроля -- фотоелектричні методи контролю -- телевизионные методы контроля -- телевізійні методи контролю -- дифракционные методы контроля -- дифракційні методи контролю -- качество полупроводниковых пластин -- якість напівпровідникових пластин -- нанесение пленок -- нанесення плівак -- оптическая спектрометрия -- оптична спектрометрія
Анотація: Методы и средства измерения линейных размеров, толщин и глубин топологических элементов интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Колгин, Евгений Александрович; Котлецов, Борис Николаевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

621.3.049.77
Ж59

Жердев, Николай Константинович.
Контроль устройств на интегральных схемах [] / Н. К. Жердев, Б. П. Креденцер, Р. Н. Белоконь ; под ред. Б. П. Креденцера. - К. : Техніка, 1986. - 160 с. : рис., табл. - Лит.: с. 154-158. - 0.65 р.

УДК

621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Практичні посібники

Кл.слова (ненормовані):
отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- ремонт технических устройств -- ремонт технічних пристроїв -- диагностирование объектов контроля -- діагностування об'єктів контролю -- прогнозирование отказов объектов контроля -- прогнозування відмов об'єктів контролю -- эффективность методов контроля -- ефективність методів контролю
Анотація: Подход к повышению качества диагностирующего и прогнозирующего контроля технических устройств на интегральных микросхемах.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Креденцер, Борис Петрович; Белоконь, Ренальд Никифорович; Креденцер, Б. П. \ред.\
Примірників всього: 3
ВВ (1), ФОНД (2)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (2)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)