Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
у знайденому
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>U=621.396.6:621.3.049.77(075.8)<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.
621.396.6:621.3.049.77(075.8)
Г74


    Готра, Зенон Юрьевич.
    Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.
УДК
ББК 32.844.1я723
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання
   
Кл.слова (ненормовані):
стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю
Анотація: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Николаев , Игорь Моисеевич
Примірників всього: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)