Про нас Електронний депозитарій LIBO Зведений каталог України
Авторизація
Прізвище
Пароль
 

Бази даних


Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Пошуковий запит: <.>K=контроль качества очистки поверхности<.>
Загальна кількість знайдених документів : 1
1.
32.844.1
П52


    Полтавцев, Юрий Гаврилович.
    Технология обработки поверхностей в микроэлектронике [] / Ю. Г. Полтавцев, А. С. Князев. - Киев : Тэхника, 1990. - 206 с. : рис., табл. - Лит.: с. 197-204. - ISBN 5-335-00572-6 : 0.70 р.
ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Технологія--Практичні посібники
   
Кл.слова (ненормовані):
микроэлектроника -- интегральные микросхемы -- химическая очистка поверхности -- хімічне очищення поверхні -- плазмохимическая очистка поверхности -- плазмохімічне очищення поверхні -- лазерная очистка поверхности -- лазерне очищення поверхні -- контроль качества очистки поверхности -- контроль якості очищення поверхні -- рентгенографический метод контроля -- рентгенографічний метод контролю
Анотація: Освещена технология очистки поверхностей кремниевых пластин в производстве интегральных схем.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Князев, Александр Сергеевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)