681.51.033.01 Г 81     Грешилов, Анатолий Антонович.     Анализ и синтез стохастических систем. Параметрические модели и конфлюентный анализ [] / А. А. Грешилов. - М. : Радио и связь, 1990. - 320 с. : рис., табл. - Лит.: с. 313-317. - ISBN 5-256-00293-7 : 4.70 р. УДК 681.51.033.01 ББК 32.811.1 Рубрики: Випадкові сигнали--Наукові видання     фывфывфыв: системный анализ -- системний аналіз -- оценивание параметров -- оцінювання параметрів -- управляемость -- упраляємість -- наблюдательность -- спостережливість -- свойства оценок -- властивості оцінок -- конфлюентный анализ -- конфлюєнтний аналіз -- активный эксперимент -- активний експеримент -- прогнозирование -- прогнозування -- первичная сеть -- первинна мережа -- штат технического персонала -- штат технічного персоналу -- развитие связи -- розвиток зв'язку -- оценка коэффициентов -- оцінка коефіцієнтів -- кубические сплайны -- кубічні сплайни Аннотация: Методы анализа и синтеза стохастичесих систем. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1)

621.396.6(075.8) Г 55     Глудкин, Олег Павлович.     Анализ и контроль технологических процессов производство РЭА [] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Радио и связь, 1983. - 296 с. : рис., табл. - Лит.: с. 293. - Предм. указ.: с. 293-294. - 1.10 р. УДК 621.396.6(075.8) ББК 32.844я73 Рубрики: Радіоелектронна апаратура--Моделювання--Контроль--Навчальні видання для вищої школи     фывфывфыв: статистичний ряд -- статистический ряд -- моделі складних процесів -- модели сложных процессов -- методи оптимізації -- методы оптимизации -- пасивний експеримент -- пассивный эксперимент -- активний експеримент -- активный эксперимент -- аналіз точності технологічного процесу -- анализ точности технологического процесса -- стабільність технологічного процесу -- стабильность технологического процесса -- кумулята -- контроль параметрів мікросхем -- контроль параметров микросхем -- матриця -- оцінка інформативності -- оценка информативности -- плівки -- пленки -- стандартне відхилення -- стандартное отклонение -- таблиці переходів -- таблицы переходов -- центральний композиційний план -- центральный композиционный план -- ентропія -- энтропия Аннотация: Описаны методы моделирования, анализа и контроля технологических процессов изготовления радиоэлектронной аппаратуры и ее элементов. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Черняев, Владимир Николаевич Экземпляры всего: 1 ФОНД (1) Свободны: ФОНД (1)