И37 Измерение параметров цифровых интегральных микросхем [] / [Д. Ю. Эйдукас и др.] ; под ред.: Д. Ю. Эйдукаса, Б. В. Орлова. - М. : Радио и связь, 1982. - 368 с. : рис., табл. - (Измерения в электронике). - Прил.: с. 353-355. - Лит.: с. 356-365. - 1.30 р.
Рубрики: Цифрова електроніка--Вимірювання--Практичні посібники фывфывфыв: цифровые интегральные микросхемы -- цифрові інтегральні мікросхеми -- статические параметры интегральных микросхем -- статичні параметри інтегральних мікросхем -- контроль интегральных микросхем -- контроль інтегральних мікросхем -- динамические параметры интегральных микросхем -- динамічні параметри інтегральних мікросхем -- программное обеспечение систем контроля -- програмне забезпечення систем контролю -- производственные системы измерения -- виробничі системи вимірювання Аннотация: Опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров интегральных микросхем. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Эйдукас, Д. Ю.; Орлов, Б. В.; Попель, Л. М.; Лышенко, В. И.; Эйдукас, Д. Ю. \ред.\; Орлов, Б.В. \ред.\ Экземпляры всего: 2 ВВ (1), ФОНД (1) Свободны: ВВ (1), ФОНД (1) |