621.3.049.77(075) Б81     Бондарь, Борис Георгиевич.     Основы микроэлектроники [] : учеб. пособие / Б. Г. Бондарь. - К. : Вища шк., 1987. - 309 с. : рис., табл. - Л-ра: с.305-307. - Предм. указ.: с. 308-309. - 0.95 р. УДК 621.3.049.77(075) ББК 32.844.1я73 Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Проектування--Навчальні видання для вищої школи     фывфывфыв: физика полупроводников -- фізика напівпровідників -- проектирование интегральных микросхем -- проектування інтегральних мікросхем -- изготовление интегральных микросхем -- виготовлення інтегральних мікросхем -- цифровые интегральные микросхемы -- цифрові інтегральні мікросхеми -- компоненты интегральных микросхем -- компоненти інтегральних мікросхем -- аналоговые интегральные микросхемы -- аналогові інтегральні мікросхеми -- функциональная микроэлектроника -- функціональна мікроелектроніка -- применение интегральных микросхем -- застосування інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем Аннотация: Функции, структуры и электрические параметры элементов и компонентов интегральных микросхем. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Экземпляры всего: 3 ВВ (2), ФОНД (1) Свободны: ВВ (2), ФОНД (1)

621.396.6:621.3.049.77(075.8) Г74     Готра, Зенон Юрьевич.     Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р. УДК 621.396.6:621.3.049.77(075.8) ББК 32.844.1я723 Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання     фывфывфыв: стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю Аннотация: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Николаев , Игорь Моисеевич Экземпляры всего: 2 ВВ (1), ФОНД (1) Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)