621.396.6:621.3.049.77(075.8) Г74
Готра, Зенон Юрьевич. Контроль качества и надежность микросхем [] : учеб. / З. Ю. Готра, И. М. Николаев . - М. : Радио и связь, 1989. - 168 с. : рис., табл. - Лит.: с. 168. - ISBN 5-256-00257-0 : 0.35 р.ББК 32.844.1я723 Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Контроль--Якість--Навчальні видання фывфывфыв: стандарты электронной промышленности -- стандарти електронної промисловості -- отказы интегральных микросхем -- відмови інтегральних мікросхем -- качество интегральных микросхем -- якість інтегральних мікросхем -- надежность интегральных микросхем -- надійність інтегральних мікросхем -- испытания интегральных микросхем -- випробування інтегральних мікросхем -- системы управления качеством -- системи управління якістю Аннотация: Приводятся основные показатели качества и надежности, анализируются виды, причины и механизмы отказов интегральных микросхем.
Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Николаев , Игорь Моисеевич
Экземпляры всего: 2 ВВ (1), ФОНД (1) Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
|