И37 Измерения и контроль в микроэлектронике [] : учеб. пособие / [Н. Д. Дубовой и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высш. шк., 1984. - 367 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с. 363-364. - 1.00 р.
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: измерение интегральных микросхем -- вимірювання інтегральних мікросхем -- контрольно-измерительные операции -- контрольно-вимірювальні операції -- параметры технологических схем -- параметри технологічних схем -- устройство программного управления -- пристрій програмного управління -- контроль цифровых микросхем -- контроль цифрових мікросхем -- контроль аналоговых микросхем -- контроль аналогових мікросхем -- контроль микропроцессоров -- контроль мікропроцесорів -- контроль статических параметров -- контроль статичних параметрів -- контроль динамических параметров -- контроль динамічних параметрів -- контроль компараторов напряжения -- контроль компараторів напруги Аннотация: Основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при произвдстве интегральных микросхем. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Дубовой, Николай Дмитриевич; Осокин, Вячеслав Иванович; Очков, Александр Сергеевич; Бочкова, Тамара Васильевна; Сазонов, А. А. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |