621.3.049.77:621.396.6
A22


   
    Автоматизация технологического проектирования микроэлектронных устройств средствами САПР [] / В. А. Коваль [и др.] ; под ред. А. В. Коваля. - Львов : Выща шк. Изд-во при Львов. ун-те, 1988. - 253 с. : рис., табл. - Лит.: с. 231. - Прил.: с. 232-248. - Предм. указ.: с. 249-253. - ISBN 5-11-000620-2 : 1.00 р.
УДК
ББК 32.844.1-02
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи
   
фывфывфыв:
проектирование микроэлектронных устройств -- проектування мікроелектронних пристроїв -- конструкции микроэлектронных устройств -- конструкції мікроелектронних пристроїв -- микроэлектронная аппаратура -- мікроелектронна апаратура -- краевые задачи теплопроводности -- крайові задачі теплопровідності -- метод Галеркина -- метод Галеркіна -- пакет прикладных программ -- пакет прикладних програм -- уравнение Лапласа -- рівняння Лапласа -- измерительная инфрокрасная установка -- вимірювальна інфрачервона установка -- метод конечных элементов -- метод кінцевих елементів -- теплоэлектрические характеристики микроэлектронных устройств -- теплоелектричні характеристики мікроелектронних пристроїв -- тепловое автоматизированное проектирование -- теплове автоматизовне проектування -- сквозное автоматическое проектирование -- наскрізне автоматичне проектування -- схема Кранка-Николсона -- схема Кранка-Ніколсона -- транслятор входного языка -- транслятор вхідної мови -- автоматизированный эксперимент -- автоматизований експеримент
Аннотация: Методы автоматического проектирования и анализа температурных полей в конструкциях МЭУ средствами САПР.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Коваль, Владимир Александрович; Федасюк, Дмитрий Васильевич; Маслов, Вячеслав Викторович; Тарновский В. Ф., Виталий Федорович; Коваль, Владимир Александрович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

621.3.049.77
А22


   
    Автоматизация технологического оборудования микроэлектроники [] : учеб. пособие для приборостроит. спец. вузов / [А. А. Сазонов и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высш. шк., 1991. - 333, [1] с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с. 332. - ISBN 5-06-000731-6 : 1.60 р.
УДК
ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи
   
фывфывфыв:
производство интегральных микросхем -- виробництво інтегральних мікросхем -- гибкие автоматизированные производства -- гнучкі автоматизовані виробництва -- технологические объекты микроэлектроники -- технологічні об'єкти мікроелектроніки -- управляющие устройства -- управляючі пристрої -- системы управления перемещениями -- системи управління переміщеннями -- електропривод -- электропривод -- технологический микроклимат -- технологічний мікроклімат -- адаптивные регуляторы -- адаптивні регулятори
Аннотация: Вопросы разработки систем управления основными технологическими процессами интегральных микросхем.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Сазонов, Александр Афанасьевич; Корнилов , Ростислав Васильевич; Кохан , Николай Петрович; Лукичев, Александр Юрьевич; Осокин, Вячеслав Иванович; Таран, Валентин Анатольевич; Федукин, Владимир Александрович; Сазонов, Александр Афанасьевич \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

621.3.049.77(075)
Б81


    Бондарь, Борис Георгиевич.
    Микроэлектроника [] : учеб. пособие / Б. Г. Бондарь, В. А. Письменецкий, В. А. Хорунжий; под ред. Б. Г. Бондаря. - К. : Вища шк., 1981. - 256 с. : рис., табл. - Прил.: с. 245-252. - Лит.: с. 253-254. - 0.45 р.
УДК
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання
   
фывфывфыв:
биполярные транзисторы -- біполярні транзистори -- диоды -- діоди -- полевые транзисторы -- польові транзистори -- полупроводниковые приборы -- напівпровідникові прилади -- фотолитография -- фотолітографія -- пасcывные элементы -- пасивні елементи -- толстопленочная электроника -- товстоплівкова електроніка -- типы логики -- типи логіки -- акустоэлектроника -- акустоелектроніка -- оптоэлектроника -- оптоелектроніка -- фильтры -- фільтри
Аннотация: Структура и электрические параметры элементов интегральных микросхем, принципы технологии и конструкции полупроводников.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Письменецкий, Виктор Александрович; Хорунжий, Виталий Андреевич; Бондарь, Борис Георгиевич \ред.\
Экземпляры всего: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)

621.3.049.77
В15


    Валиев, Камиль Ахметович.
    Микроэлектроника: достижения и пути развития [] / К. А. Валиев. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986. - 144 с. : рис., табл. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Лит.: с. 136-142. - 0.95 р.
УДК
ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Популярні видання
   
фывфывфыв:
законы масштабирования -- закони масштабування -- трехмерные интегральные микросхемы -- тривимірні інтегральні мікросхеми -- микроэлектронные приборы -- мікроелектронні пристрої -- сверхинтегральные устойства памяти -- надінтегральні обладнання пам'яті -- криомикроэлектроника -- кріомікроелектроніка -- молекулярная электроника -- молекулярна електроніка -- технологии микроэлектроники -- технології мікроелектроніки -- системы теневого экспонирования -- системи тіньового експонування
Аннотация: Книга посвящена развитию технической базы систем переработки информации - микроэлектронным интегральным стемам и их технологии.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

621.3.049.77
В58


    Власов, Владимир Евгеньевич.
    Системы технологического обеспечения качества компонентов микроэлектронной аппаратуры [] / Е. В. Власов, В. П. Захаров, А. И. Коробов ; ред. А. И. Коробов. - М. : Радио и связь, 1987. - 158 с. : рис., табл. - Лит.: с. 153-156. - 0.55 р.
УДК
ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Практичні посібники
   
фывфывфыв:
производство микроэлектронной аппаратуры -- виробництво мікроелектронної апаратури -- качество мироэлектронной аппаратуры -- якість мікроелектронної апаратури -- пленочные компоненты микроэлектроники -- плівкові компоненти мікроелектроніки -- надежность изделий микроэлектроники -- надійність виробів мікроелектроніки -- мультипликация -- мультиплікація -- автоматизированная система контроля -- автоматизована система контролю -- анализ конструктивно-технологических решений -- аналіз конструктивно-технологічних рішень
Аннотация: Обеспечение качества компонентов микроэлектронной аппаратуры на этапах разработки и изготовления.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Захаров, Вадим Петрович; Коробов, Анатолий Иванович; Коробов, Анатолий Иванович \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

621.3.049.77(075.8)
Е91


    Ефимов, Иван Ефимович.
    Основы микроэлектроники [] : учебник для вузов / И. Е. Ефимов. - 2-е изд., перераб. и доп. - М. : Высш. шк., 1983. - 384 с. : рис., табл. - Лит.: с. 381-382. - 1.10 р.
УДК
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи
фывфывфыв:
развитие микроэлектроники -- розвиток мікроелектроніки -- создание интегральных микросхем -- створення інтегральних мікросхем -- полупроводниковые интегральные микросхемы -- напівпровідникові інтегральні мікросхеми -- гибридные интегральные микросхемы -- гібридні інтегральні мікросхеми -- большие интегральные микросхемы -- великі інтегральні мікросхеми -- микропроцессоры -- мікропроцесори -- применение микросхем -- застосування мікросхем -- качество микросхем -- якість мікросхем -- надежность микросхем -- надійність мікросхем -- функциональная микроэлектроника -- функціональна мікроелектроніка
Аннотация: Физические основы , конструкция, технология, структурные элементы и аспекты проектирования интегральных микросхем.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Козырь, Иван Яковлевич
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

621.3.049.77
И37


   
    Измерения и контроль в микроэлектронике [] : учеб. пособие / [Н. Д. Дубовой и др.] ; под ред. А. А. Сазонова. - М. : Высш. шк., 1984. - 367 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с. 363-364. - 1.00 р.
УДК
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Навчальні видання для вищої школи
   
фывфывфыв:
измерение интегральных микросхем -- вимірювання інтегральних мікросхем -- контрольно-измерительные операции -- контрольно-вимірювальні операції -- параметры технологических схем -- параметри технологічних схем -- устройство программного управления -- пристрій програмного управління -- контроль цифровых микросхем -- контроль цифрових мікросхем -- контроль аналоговых микросхем -- контроль аналогових мікросхем -- контроль микропроцессоров -- контроль мікропроцесорів -- контроль статических параметров -- контроль статичних параметрів -- контроль динамических параметров -- контроль динамічних параметрів -- контроль компараторов напряжения -- контроль компараторів напруги
Аннотация: Основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при произвдстве интегральных микросхем.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Дубовой, Николай Дмитриевич; Осокин, Вячеслав Иванович; Очков, Александр Сергеевич; Бочкова, Тамара Васильевна; Сазонов, А. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)

32.844.1
С89


    Сугано, Такуо.
    Введение в микроэлектронику [] / Т. Сугано, Т. Икома, Ё. Танкэси ; пер. с яп.: В. В. Комарова, М. Е. Панюкова ; под ред. В. Г. Ржанова. - Москва : Мир, 1988. - 320 с. : рис., табл. - Предм. указ.: с. 318-319. - ISBN 5-03-001109-9 : 1.80 р.
ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми-- Навчальні видання
   Напівпровідники--Напівпровідникові прилади--Технології--Навчальні видання

   
фывфывфыв:
микроэлектроника -- интегральные микросхемы -- полупроводники -- полупроводниковые приборы -- развитие микроэлектроники -- розвиток мікроелектроніки -- электрические свойства полупроводников -- електричні властивості напівпровідників -- полевые транзисторы -- польові транзистори -- литография -- літографія -- травление рисунка -- травлення малюнка -- моделирование технологических процессов -- моделювання технологічних процесів -- структуры полупроводниковых интегральных схем -- структури напівпровідникових інтегральних схем -- физика перехода Джозефсона -- фізика переходу Джозефсона
Аннотация: Методы конструирования, технология производства, применение интегральных схем, обеспечивающей получение бездефектных приборов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Икома, Тосиаки; Танкэси, Ёсиюки; Комаров, В. В. \пер.\; Панюков, М. Е. \пер.\; Ржанов, В. Г. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)