К56 Ковалев, Анатолий Иванович. Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Наукові видання Сплави--Структура--Дослідженння--Наукові видання Кл.слова (ненормовані): растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгенівська фотоелектронна спектроскопія -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопія оже-електронів -- спектроскопия потерь энергии электронов -- спектроскопія втрат енергії електронів -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- мас-спектроскопія вторинних іонів -- спектроскопия ионов рассеивания -- спектроскопія іонів розсіювання -- лазерный микрозондовый анализ -- лазерний мікрозондовий аналіз Анотація: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Дод.точки доступу: Щербединский, Геннадий Васильевич Примірників всього: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Б90 Бублик, Владимир Тимофеевич. Методы исследования структуры полупроводников и металлов [] : учеб. пособие для вузов / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Металлургия, 1978. - 272 с. : рис., табл. - Лит.: с. 271. - Предм. указ.: с. 272. - 0.95 р.
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи Напівпровідники--Структура--Дослідженння--Навчальні видання для вищої школи Кл.слова (ненормовані): световые микроскопы -- світлові мікроскопи -- амплитудный контраст -- амплітудний контраст -- фазовый контраст -- фазовий контраст -- дифракция -- дифракція -- динамическая теория рассеяния -- динамічна теорія розсіювання -- рентгеновские дифракционные методы -- рентгенівські дифракційні методи -- исследование поликристаллов -- дослідження полікристалів -- исследование структуры кристаллов -- дослідження структури кристалів -- электронограммы -- електронограми -- нейтронография -- нейтронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- эпитаксальные пленки -- епітаксальні плівки Анотація: Изложена теория основных методов исследования структуры магнитных и немагнитных полупроводниковых и диэлектрических кристаллов, металлических материалов. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Дод.точки доступу: Дубровина, Анна-Аида Николаевна Примірників всього: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |