Ф37 Фелдман, Леонард. Основы анализа поверхности и тонких пленок [] = Fundamentals of surface and thin film analysis / Л. Фелдман, Д. Майер ; пер. с англ. В. А. Аркадьева, Л. И. Огнева ; под ред. В. В. Белошицкого. - М. : Мир, 1989. - 342 с. : рис. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 333-336. - ISBN 5-03-001017-3 : 3.70 р.
Рубрики: Тонкі плівки--Наукові видання Кл.слова (ненормовані): тонкие пленки вещества -- тонкі плівки речовини Анотація: Монография посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Дод.точки доступу: Майер, Джеймс; Аркадьев, В. А. \пер.\; Огнев, Л. И. \пер.\; Белошицкий, В. В. \ред.\ Примірників всього: 1 ФОНД (1) Свободны: ФОНД (1) |