А94 Афромеев, Владимир Ильич. Согласующие устройства глобальных и полупроводниковых интегральных СВЧ схем [] / В. И. Афромеев, В. Н. Привалов, А. А. Яшин ; Акад. наук УССР. Ин-т технической механики. - К. : Наук. думка, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Лит.: с. 181-188. - ISBN 5-12-000538-X : 2.90 р.
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Напівпровідникові--Наукові видання Кл.слова (ненормовані): микроэлектронные устройства -- мікроелектронні пристрої -- интегральные сверхвысокие частоты -- інтегральні надвисокі частоти -- волноводы -- хвильоводи -- широкополосные переходы -- широкосмугові переходи -- шлейфовые ступенчатые переходы -- шлейфові східчасті переходи -- полупроводниковые интегральные схемы -- напівпровідникові інтегральні схеми -- микрополосковые схемы -- мікрополоскові схеми -- волноводно-диэлектрический фильтр -- хвилеводно-діелектричний фільтр -- шлейфовые переходы -- шлейфові переходи -- широкополосная щелевая антена -- широкосмугова щільова антена Анотація: Исследованы принципы построения и разработаны методы синтеза широкополосных устройств гибких и полупроводниковых интегральных схем. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Дод.точки доступу: Привалов, Владимир Николаевич; Яшин, Алексей Афанасьевич; Академия наук Украинской ССР. Институт технической механики Примірників всього: 2 ВВ (1), ФОНД (1) Свободны: ВВ (1), ФОНД (1) |
В15 Валиев, Камиль Ахметович. Микроэлектроника: достижения и пути развития [] / К. А. Валиев. - М. : Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит., 1986. - 144 с. : рис., табл. - (Проблемы науки и технического прогресса). - Лит.: с. 136-142. - 0.95 р.
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Популярні видання Кл.слова (ненормовані): законы масштабирования -- закони масштабування -- трехмерные интегральные микросхемы -- тривимірні інтегральні мікросхеми -- микроэлектронные приборы -- мікроелектронні пристрої -- сверхинтегральные устойства памяти -- надінтегральні обладнання пам'яті -- криомикроэлектроника -- кріомікроелектроніка -- молекулярная электроника -- молекулярна електроніка -- технологии микроэлектроники -- технології мікроелектроніки -- системы теневого экспонирования -- системи тіньового експонування Анотація: Книга посвящена развитию технической базы систем переработки информации - микроэлектронным интегральным стемам и их технологии. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Примірників всього: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Ф33 Федорков, Борис Геогриевич. Микросхемы ЦАП и АЦП: функционирование, параметры, применение [] / Б. Г. Федорков, В. А. Телец ; [ред.: Н. К. Ваулин, В. А. Медведева]. - Москва : Энергоатомиздат, 1990. - 320 с. : рис., табл. - Прил.: с. 309-311. - Лит.: с. 312-317. - ISBN 5-283-01545-9 : 1.20 р.
Рубрики: Цифрові пристрої--Практичні посібники Мікросхеми--Практичні посібники Кл.слова (ненормовані): микросхемы -- цифровые устройства -- цифро-аналоговые преобразователи -- цифро-аналогові перетворювачі -- аналого-цифровые преобразователи -- аналого-цифрові перетворювачі -- ЦАП -- АЦП -- обработка данных -- обробка даних -- микроэлектронные устройства -- мікроелектронні пристрої Анотація: Приведены электрические параметры и эксплуатационные характеристики микроэлектронных цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Дод.точки доступу: Телец, Виталий Арсеньевич; Ваулин, Н. К. \ред.\; Медведева, В. А. \ред.\ Примірників всього: 2 ФОНД (1), ВВ (1) Свободны: ФОНД (1), ВВ (1) |
К65 Копыл, Георгий Филиппович. Основы технологии и оборудование производства микроэлектронных устройств [] : учеб. пособие / Г. Ф. Копыл. - Киев : Вища шк., 1992. - 415 с. : рис. - Лит.: с. 410. - Предм. указ.: с. 411-415. - ISBN 5-11-002526-6 : 3.20 крб Рубрики: Мікроелектроніка--Обладнання--Технологія--Навчальні видання Кл.слова (ненормовані): микроэлектроника -- развитие полупроводниковой электроники -- розвиток напівпровідникової електроніки -- безопасность труда рабочих -- безпека праці робітників -- контрольно-измерительные устройства -- контрольно-вимірювальні пристрої -- системное программное обеспечение -- системне програмне забезпечення -- производство интегральных микросхем -- виробництво інтегральних мікросхем -- формирование топологического рисунка -- формування типологічного малюнка -- микроэлектронные устройства -- мікроелектронні пристрої -- контроль цифровых интегральных микросхем -- контроль цифрових інтегральних мікросхем -- испытания микроэлектронных устройств -- випробування мікроелектронних пристроїв Анотація: Технология, контрольно-измерительное и испытательное оборудование производства микроэлектронных устройств и испытательное оборудование. Утримувачі документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Примірників всього: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |