621.3.049.77
Д70


    Достанко, Анатолий Павлович.
    Технология интегральных схем [] : учеб. пособие / А. П. Достанко. - Минск : Вышэйшая шк., 1982. - 206 с. : рис., табл. - Прил.: с. 200-203. - Лит.: с. 204. - 0.70 р.
УДК
ББК 32.844.1я73
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Виготовлення--Навчальні видання для вищої школи
   
фывфывфыв:
технология интегральных микросхем -- технологія інтегральних мікросхем -- выращивание монокристаллов -- вирощування монокристалів -- эпитаксиальные полупроводниковые слои -- епітаксіальні напівпровідникові шари -- диэлектрические пленки -- діелектричні плівки -- фоторезисторы -- фоторезистори -- диффузная технология -- дифузна технологія -- формирование токопроводящих систем -- формування тонкопровідних систем -- комбинированные методы изоляции -- комбіновані методи ізоляції -- формирование интегральных микросхем -- формування інтегральних мікросхем -- тонкопленочные контакты -- тонкоплівкові контакти
Аннотация: Производство интегральных микросхем, оборудование для их реализации, типовые технологические процессы.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Экземпляры всего: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)

32.844.1
М78


   
    МОП-СБИС. Моделирование элементов и технологических процессов [] = Process and Device Simulaion for MOS-VLSI Circuits / под ред. П. Антонетти [и др.] ; пер. с англ.: В. Л. Кустова, В. М. Петрова, Р. А. Селляховой ; под ред. Р. А. Суриса. - Москва : Радио и связь, 1988. - 496 с. : рис., табл. - Лит.: с. 488-490. - Список работ, пер. на рус. яз.: с. 491. - ISBN 5-256-00130-2 : 4.10 р.
ББК 32.844.1
Рубрики: Інтегральні мікросхеми--Виготовлення--Практичні посібники
   Математичне моделювання--Технологічні процеси--Практичні посібники

   
фывфывфыв:
интегральные микросхемы -- математическое моделирование -- технологические процессы -- диффузия в кремнии -- дифузія в кремнії -- термическое окисление кремния -- термічне окислення кремнію -- хлорированные окислы -- хлоровані оксиди -- ионная имплантация -- іонна імплантація -- пучковый отжиг имплантированного кремния -- пучковий отжиг імплантованого кремнію -- контроль материалов -- контроль матеріалів -- поликристаллические кремниевые структуры -- полікристалічні кремнієві структури -- двумерное моделирование -- двовимірне моделювання -- численное моделирование процессов -- чисельне моделювання процесів -- оптическая литография -- оптична літографія -- анализ планарных приборов -- аналіз планарних приладів -- метод конечных элементов -- метод кінцевих елементів
Аннотация: Модели диффузии, ионной имплантации, окисления, отжига, литографии, травления и модели, описывающие функциональные МОП-транзисторов.

Держатели документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Доп.точки доступа:
Антонетти, П. \ред.\; Антониадис, Д. \ред.\; Даттон, Р. \ред.\; Оулдхем, У. \ред.\; Кустов, В. Л. \пер.\; Петров, В. М. \пер.\; Селляхова, Р. А. \пер.\; Сурис, Р. А. \ред.\
Экземпляры всего: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)