Зведений каталог Житомирської обласної універсальної наукової бібліотеки ім. О. Ольжича та бібліотек Житомирської області

Про нас

Електронний депозитарій LIBO

Зведений каталог України

Бази даних

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича- результати пошуку

Вид пошуку

Електронний каталог ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Цінні та рідкісні видання ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Звягельська бібліотека ЗМР

Зона пошуку

у знайденому

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Відсортувати знайдені документи за:
автором	назвою	роком видання	типом документа

Пошуковий запит: <.>A=Глудкин, Олег Павлович$<.>

Загальна кількість знайдених документів : 3
Показані документи с 1 за 3

621.396.6(075.8)
Г 55

Глудкин, Олег Павлович.
Анализ и контроль технологических процессов производство РЭА [] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Радио и связь, 1983. - 296 с. : рис., табл. - Лит.: с. 293. - Предм. указ.: с. 293-294. - 1.10 р.

УДК

621.396.6(075.8)

ББК 32.844я73
Рубрики: Радіоелектронна апаратура--Моделювання--Контроль--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
статистичний ряд -- статистический ряд -- моделі складних процесів -- модели сложных процессов -- методи оптимізації -- методы оптимизации -- пасивний експеримент -- пассивный эксперимент -- активний експеримент -- активный эксперимент -- аналіз точності технологічного процесу -- анализ точности технологического процесса -- стабільність технологічного процесу -- стабильность технологического процесса -- кумулята -- контроль параметрів мікросхем -- контроль параметров микросхем -- матриця -- оцінка інформативності -- оценка информативности -- плівки -- пленки -- стандартне відхилення -- стандартное отклонение -- таблиці переходів -- таблицы переходов -- центральний композиційний план -- центральный композиционный план -- ентропія -- энтропия
Анотація: Описаны методы моделирования, анализа и контроля технологических процессов изготовления радиоэлектронной аппаратуры и ее элементов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Черняев, Владимир Николаевич
Примірників всього: 1
ФОНД (1)
Свободны: ФОНД (1)
Знайти схожі

621.396.6
Г55

Глудкин, Олег Павлович.
Методы и устройства испытаний РЭС и ЭВС [] : учеб. для вузов / О. П. Глудкин. - М. : Высш. шк., 1991. - 336 с. : рис., табл. - Лит.: с. 334. - ISBN 5-06-001891-1 : 0.95 р.

УДК

621.396.6

004

ББК 32.844я73 + 32.973я73
Рубрики: Радіоелектронна апаратура--Випробування--Навчальні видання для вищої школи
Електронна апаратура--Випробування--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
класифікація випробувань -- классификация испытаний -- методика випробувань -- методика испытаний -- лабораторні випробування -- лабораторные испытания -- стендові випробування -- стендовые испытания -- кліматичний вплив -- климатические воздействия -- біологічний вплив -- биологические воздействия -- космічний вплив -- космические воздействия -- механічний вплив -- механические воздействия -- вібрація -- вибрация -- вібростійкість -- виброустойчивость -- комплексні кліматичні впливи -- комплексные климатические воздействия -- кількісні показники надійності -- количественные показатели надежности -- статистична обробка результатів випробувань -- статистическая обработка результатов испытаний -- центральна випробувальна станція -- центральная испытательная станция
Анотація: Рассмотрены вопросы теории и практики испытаний радиоэлектронных и электронных вычислительных средств.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича
Примірників всього: 2
ВВ (1), ФОНД (1)
Свободны: ВВ (1), ФОНД (1)
Знайти схожі

621.396.6:621.3.049.77
Г55

Глудкин, Олег Павлович.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [] : учеб. пособие для вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - М. : Энергия, 1980. - 360 с. : рис., табл. - Лит.: с. 355. - Предм. указ.: с. 356-357. - 1.00 р.

УДК

621.396.6:621.3.049.77

ББК 32.844.1
Рубрики: Мікроелектроніка--Інтегральні мікросхеми--Випробування--Навчальні видання для вищої школи

Кл.слова (ненормовані):
надежность микроэлектроники -- надійність мікроелектроніки -- параметры интегральных схем -- параметри інтегральних схем -- контроль интегральных схем -- контроль інтегральних схем -- испытания интегральных схем -- випробування інтегральних схем -- обработка экспериментальных данных -- обробка експериментальних даних -- методы прогнозирования -- методи прогнозування -- радиационная стойкость -- радіаційна стійкість -- математическое ожидание -- математичне очікування -- точность измерительных средств -- точність вимірюваних засобів -- нейтронное излучение -- нейтронне випромінювання
Анотація: Теория контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов.

Утримувачі документа:
ЖОУНБ ім. О. Ольжича

Дод.точки доступу:
Черняев, Владимир Николаевич
Примірників всього: 1
ВВ (1)
Свободны: ВВ (1)
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)