Г67 Горальський, Леонід Петрович. Основи гістологічної техніки і морфофункціональні методи дослідження у нормі та при патології [] : навч. посібник / Л. П. Горальський, В. Т. Хомич, О. І. Кононський ; за ред. Л. П. Горальського. - Житомир : Полісся, 2005. - 286 с. : рис., сх. - Л-ра: с. 275-276. - ISBN 966-655-152-7 : 15.00 грн
Рубрики: Гістологія--Навчальні видання фывфывфыв: місцеві видання -- местные издания -- гістологічні дослідження -- гистологические исследования -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- гістологічні препарати -- гистологические препараты -- фіксуючі речовини -- фиксирующие вещества -- виготовлення зрізів -- изготовление срезов -- гістохімічні методи досліджень -- гистохимические методы исследований -- світлова мікроскопія -- световая микроскопия -- морфометричні дослідження -- морфометрические исследования -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- морфофункціональні дослідження -- морфофункциональніе исследования Аннотация: У посібнику викладені основи гістологічної техніки і описані основні методи морфофункціональних досліджень, які широко використовуються у біології, ветеринарній і гуманній медицині. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Хомич, В. Т.; Кононський, О. І.; Горальський, Л. П. \ред.\; Організація і розвиток науки у краї 11.02 Экземпляры всего: 2 ФОНД (1), ВВ (1) Свободны: ФОНД (1), ВВ (1) |
Х-65 Хмельницкий, Рюрик Аркадьевич. Современные методы исследования агрономических объектов [] : учеб. пособие для студ. вузов / Р. А. Хмельницкий. - М. : Высшая школа, 1981. - 256 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 252-253. - 0.90 р.
Рубрики: Агрономія--Навчальні видання для вищої школи--Агрофізика--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: термічний аналіз -- термический анализ -- рентгеноструктурний аналіз -- рентгеноструктурный анализ -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- інфрачервона спектроскопія -- инфракрасная спектроскопия -- хроматографія -- хроматография -- органічна мас-спектрометрія -- органическая масс-спектрометрия Аннотация: Инструментальные методы анализа и применение их для исследования различных агрономических и агрохимических объектов. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Л86 Адрианов , О. С. О принципах организации церебральных функций [] : сборник / О. С. Адрианов // А. Р. Лурия и современная психология : (сборник статей памяти А. Р. Лурия) / под ред. Е. Д. Хомской, Л. С. Цветковой, Б. В. Зейгарник. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1982. - С. 72-81
Рубрики: фывфывфыв: церебральные функции -- церебральні функції -- прнципы организации -- принципи організації -- динамическая локализация функций -- динамічна локалізація функцій -- конструкции центральной нервной системы -- конструкції центральної нервової системи -- морфофизиологические исследования мозга -- морфофізіологічні дослідження мозку -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- цитохимия -- цитохімія -- авторадіография -- авторадіографія -- принципы структурной упорядоченности в организации мозга -- принципи структурної упорядкованості в організації мозку -- механизмы системной деятельности мозга -- механізми системної діяльності мозку Аннотация: А. Р. Лурия заложил основы нейропсихологии - нового направления психологии, давшего мощный импульс для развития представлений о системной локализации мозговых функций. Доп.точки доступа: Хомская, Е. Д. \ред.\; Цветкова, Л. С. \ред.\; Зейгарник, Б. В. \ред.\ Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ЧЗ (1), АБ (1) Свободны: ЧЗ (1), АБ (1) |
С 87 Структура і фізичні властивості твердого тіла: лабораторний практикум [] : навч. посібник / О. Г. Алавердова [та ін.] ; за ред. Палатника Л. С. - К. : Вища школа, 1992. - 311 с. : рис., табл. - Л-ра: с. 305-308. - ISBN 5-11-003703-5 : 15.00 крб
Рубрики: Тверді тіла--Фізичні властивості--Навчальні видання для вищої школи Тверді тіла--Структура--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: тверді тіла -- твёрдые тела -- фізичні властивості -- физические свойства -- рентгенографія металів -- рентгенография металлов -- електронографія -- электронография -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- електричні властивості -- электрические свойства -- термоелектричні властивості -- термоэлектрические свойства -- теплові властивості -- тепловые свойства -- магнітні властивості -- магнитные свойства -- механічні властивості -- механические свойства -- спектральний аналіз -- спектральный анализ -- мас-спектрометрія -- мас-спектрометрия -- дефектоскопія -- дефектоскопия Аннотация: Подано лабораторні роботи з тем спецкурсів "Рентгенографія металів", "Електронографія", "Електронна мікроскопія", "Фізичні методи дослідження металів і сплавів", "Вчення про міцність" та ін. Описано роботу на новітньому обладнанні. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Алавердова, О. Г.; Аринкін, О. В.; Богданова, О. Ф.; Бойко, Б. Т.; Палатник Л. С. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ФОНД (1) Свободны: ФОНД (1) |
Б 90 Бублик, Владимир Тимофеевич. Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" [] : учеб. пособие / В. Т. Бублик, А. Н. Дубровина. - М. : Высш. шк., 1988. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 169-190. - Лит.: с. 191. - ISBN 5-06-001309-X : 0.50 р.
Рубрики: Тверді тіла--Фізика--Задачі (навч.)--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: структурный анализ -- структурний аналіз -- кристаллические решётки -- кристалічні решітки -- коротковолновые излучения -- короткохвильові випромінювання -- рентгеновские лучи -- рентгенівські промені -- ряды Фурье -- ряди Фур'є -- кинематическое рассеяние -- кінематичне розсіювання -- динамическое рассеяние -- динамічне розсіювання -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральный анализ -- электронография -- електронографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- диэлектрики -- діелектрики -- полупроводники -- напівпровідники Аннотация: Содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Дубровина, А. Н. Экземпляры всего: 2 ФОНД (2) Свободны: ФОНД (2) |
П 69 Практическая химия белка [] = Practical Protein Chemistry / [Р. Маршелл и др.] ; ред. А. Дарбре ; пер. с англ.: Н. А. Алдановой, И. В Назимова, П. Д. Решетова. - М. : Мир, 1989. - 621 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 605-611. - ISBN 5-03-001031-9 : 6.60 р.
Рубрики: Білки (хім.)--Органічна хімія--Навчальні видання фывфывфыв: биоорганическая химия -- біоорганічна хімія -- полипептиды -- поліпептиди -- дисульфидные связи -- дисульфідні зв'язки -- хроматография белков -- хроматографія білків -- аналитические методы -- аналітичні методи -- структура белков -- структура білків -- аминокислотная последовательность -- амінокислотна послідовність -- рентгеновская кристаллография -- рентгенівська кристалографія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія Аннотация: Методические разработки в исследованиях первичной структуры белков, а также традиционные методы, широко используемые в исследовательской практике. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Маршелл, Роберт; Инглис, Адам; Фонтана, Анджело; Дарбре, Андре \ред.\; Алданова, Н. А. \пер.\; Назимов, И. В. \пер.\; Решетов, П. Д. \пер.\ Экземпляры всего: 2 ФОНД (1), ЧЗ (1) Свободны: ФОНД (1), ЧЗ (1) |
С 51 Смородина, Татьяна Александровна. Вхождение примесных центров в кристаллический слой полупроводника [] : (процессы образования монокристаллических слоев для микроэлектроники) / Т. А. Смородина, Н. Н. Шефталь, А. П. Цуранов ; отв. ред. И. А. Смирнов ; Акад. наук CССР, Физико-технич. ин-т, Ин-т кристаллографии . - Л. : Наука, Ленингр. отд-ние, 1986. - 176 с. : рис., табл. - Лит.: с. 161-171. - 1.60 р.
Рубрики: Напівпровідники--Кристалографія--Наукові видання фывфывфыв: оптическая микроскопия -- оптична мікроскопія -- аномальное прохождение рентгеновских лучей -- аномальний прохід рентгенівських променів -- фотоупругость -- фотопружність -- рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральний аналіз -- автоэлектронная микроскопия -- автоелектронна мікроскопія -- кристаллография материалов -- кристалографія матеріалів -- дефекты кристаллической структуры -- дефекти кристалічної структури -- нестехиометрия -- нестехіометрія -- изоморфизм -- ізоморфізм -- чужеродные атомы -- сторонні атоми -- двумерные несовершенства решетки -- двомірні недосконалості решітки -- кристаллические примесные комплексы -- кристалічні домішкові комплекси -- поверхностная сегрегация -- поверхнева сегрегація -- термодинамика сегрегации -- термодинаміка сегрегації -- выращивание кристаллов -- вирощування кристалів Аннотация: Рассмотрена связь условий вхождения примеси в растущий слой полупроводника с микро- и макроморфологией возникающей в нем дефектов. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Шефталь, Николай Наумович; Цуранов, Александр Павлович; Смирнов, И. А. \ред.\; Академия наук CССР; Ордена Ленина физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе; Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Б88 Броудай, Ивор. Физические основы микротехнологии [] = The Physics of Microfabrication / И. Броудай, Дж. Мерей ; пер. с англ.: В. А. Володина, В. С. Першенкова, Б. И. Подлепецкого; под ред. А. В. Шальнова. - М. : Мир, 1985. - 496 с. : рис., табл. - Прил.: с. 460-664. - Лит.: с. 465-483. - Предм. указ.: с. 484-492. - 2.60 р.
Рубрики: Мікроелектроніка--Мікросхемотехніка--Практичні посібники фывфывфыв: микроэлектронные приборы -- мікроелектронні прилади -- тонкие пленки -- тонкі плівки -- литографические методы -- літографічні методи -- пучки частиц -- пучки частин -- изготовление микросхем -- виготовлення мікросхем -- микроскопия -- мікроскопія -- микрозонды -- мікрозонди -- лазерное сканирование -- лазерне сканування -- легироание -- легування Аннотация: Технологические процессы микроэлектроники, включая субмикронную литографию, сухое травление, лазерный и электронно-лучевой отжиг. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Мерей, Джулиус; Володин, В. А. \пер.\; Першенков, В. С. \пер.\; Подлепецкий, Б. И. \пер.\; Шальнов, А. В. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
П 69 Практикум по общей химии [] : учеб. пособие / под ред.: Е. М. Соколовской, О. С. Зайцева. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : Изд-во Моск. ун-та, 1981. - 400 с. : рис., табл. - Лит.: с. 397-398. - 1.60 р. Рубрики: Загальна хімія--Практичні посібники фывфывфыв: научный эксперимент -- науковий експеримент -- химическая лаборатория -- хімічна лабораторія -- электрические нагревательные приборы -- електричні нагрівальні прилади -- центрифуги -- мерная посуда -- мірний посуд -- дистиллированная вода -- дистильована вода -- микроскопия -- мікроскопія -- термометры -- термометри -- методы очистки веществ -- методи очищення речовин -- химический эквивалент -- хімічний еквівалент -- химические реакции -- хімічні реакції -- буферные растворы -- буферні розчини -- гидролиз солей -- гідроліз солей -- коллоидные растворы -- колоїдні розчини -- комплексные соединения -- комплексні сполуки -- галогены -- галогени -- сполуки елементів -- соединения элементов Аннотация: Экспериментальные задания по основным законам химии, общим закономерностям химических реакций, химии элементов, качественному анализу. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Соколовская, Е. М. \ред.\; Зайцев, О. С. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1) |
Л12 Лабораторный практикум по материаловедению швейного производства [] : учеб. пособие для вузов / [Б. А. Бузов и др.] ; под ред. Б. А. Бузова. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : Легпромбытиздат, 1991. - 430, [2] с. : рис., табл. - Авт. указ. на оборот. тит. л. - Лит.: с. 428. - ISBN 5-7088-0047-X : 1.60 р.
Рубрики: Швейне виробництво--Матеріали--Лабораторний практикум--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: испытание материалов -- випробування матеріалів -- влажность материалов -- вологість матеріалів -- световая микроскопия материалов -- світлова мікроскопія матеріалів -- волокнистый состав материалов -- волокнистий склад матеріалів -- швейные нити -- швейні нитки -- полуцикловая характеристика ниток -- напівциклова характеристика ниток -- усталость нитей -- втомленість ниток -- выносливость нитей -- виносливість ниток -- структура текстильных материалов -- механические свойства текстиля -- механічні властивості текстилю -- физические свойства текстиля -- фізичні властивості текстилю -- износ текстильных материалов -- виносливість текстильних матеріалів -- качество текстильных материалов -- якість текстильних матеріалів -- искусственный мех -- штучне хутро -- утепляющие материалы -- утеплюючі матеріали -- клеевые материалы -- клеєві матеріали -- фурнитура швейная -- фурнітура швейна Аннотация: Рассмотрены основные виды испытаний для определения характеристик структуры и свойств материалов, применяемых в швейном производстве, описаны методы оценки их качества. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Бузов, Борис Александрович; Алыменкова, Надежда Дмитриевна; Петропавловский, Дмитрий Георгиевич; Андриенко, Петр Павлович; Бузов, Борис Александрович \ред.\ Экземпляры всего: 2 ВВ (1), ФОНД (1) Свободны: ВВ (1), ФОНД (1) |
К58 Коженевский, С. Р. Взгляд на жесткий диск "изнутри". Визуальный анализ [] / С. Коженевский. - К. : ЕПОС, 2004. - 64 с. : табл., рис. - Лит.: с. 61-62. - 10.00 грн
Рубрики: Жорсткі диски--Практичні посібники фывфывфыв: оптические микроскопы -- оптичні мікроскопи -- магнитные суспензии -- магнітні суспензії -- формирование изображений -- формування зображень -- канальные данные -- канальні дані -- кодирование -- кодування -- магнитооптический метод анализа поверхностей -- магнітооптичний метод аналізу поверхонь -- визуализация магнитных поверхностей -- візуалізація магнітних поверхонь -- параметры игл зонда -- параметри голок зонду -- магнитные поверхности пластин -- магнітні поверхні пластин -- магнитная силовая микроскопия -- магнітна силова мікроскопія -- уничтожение информации -- знищення інформації -- утилизатор информации -- утилізатор інформації Аннотация: Методы визуализации магнитных доменов являются инструментом, позволяющим создать визуальное представление доменной структуры, рабочих поверхностей носителя. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
К58 Коженевский, С. Р. Безопасность хранения информации на жестких магнитных дисках [Текстььь] / С. Коженевский. - К. : ЕПОС, 2006 - . Ч. 1. - 192 с. : табл., рис. - Лит.: с. 192. - 16.00 грн
Рубрики: Жорсткі диски--Практичні посібники фывфывфыв: хранение информации -- зберігання інформації -- эффекты магнетизма -- ефекти магнетизму -- магнитная запись -- магнітний запис -- размещение данных -- розміщення даних -- кодирование информации -- кодування інформацї -- сервосистемы жестких дисков -- сервосистеми жорстких дисків -- система управления вращением дисков -- система управління обертанням дисків -- магнитная силовая микроскопия -- магнітна силова мікроскопія -- анализ магнитных сигналограмм -- аналіз магнітних сигналограм -- восстановление информации -- відновлення даних -- сохранение данных -- зберігання данних -- уничтожение информации -- знищення інформації -- утилизатор информации -- утилізатор інформації Аннотация: Теоретические и практические вопросы безопасности хранения информации на накопителях на жестких магнитных дисках. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
И74 Информационная безопасность офиса [] : науч.-практ. сборник. Вып. 1. Технические средства защиты информации / [науч. ред. В. В. Овсянников]. - К. : ЕПОС : ТИД ДС, 2003. - 213, [3] с. : рис., табл. - Лит. в конце ст. - ISBN 966-7992-20-9 : 20.00 грн Приложение: Информационная безопасность. Вып. 2. Информационная политика и технологии. - Киев : Епос, 2005. - 128. Шифр -731076
Рубрики: Інформаційна безпека--Популярні видання фывфывфыв: TEMPEST -- утечка информации -- витік інформації -- построение компьютеров -- побудова комп'ютерів -- защита персональных компьютеров -- захист персональних комп'ютерів -- электропитание персонального компьютера -- електроживлення персонального комп'ютера -- безопасность жестких дисков -- безпека жорстких дисків -- хранение информации -- зберігання інформації -- восстановление информации -- відновлення інформації -- уничтожение информации -- знищення інформації -- визуализация магнитных полей -- візуалізація магнітних полів -- сканирующая зондовая микроскопия -- скануюча зондова мікроскопія -- программное удаление данных -- програмне знищення даних -- гарантированное удаление данных -- гарантоване знищення даних -- доступность данных -- доступність даних -- кластеры -- кластери -- физически разделенные сети -- фізично розділені мережі Аннотация: Проблемы защиты информации от утечки информации по каналам побочных излучений и наводок, приведены рекомендации по построению локальных сетей. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Овсянников, В. В. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Г51 Гистология, цитология и эмбриология [Текстььь] : в 3 кн. : учеб. пособие для студентов высш. мед. учеб. завед. ; [пер. с укр.] / под ред.: Э. Ф. Баринова, Ю. Б. Чайковского. - К. : Медицина, 2010 - . Кн. 1 : Цитология и общая эмбриология / [Э. Ф. Баринов и др.]. - [4-е изд., испр. и доп.]. - 2010. - 222, [2] с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Прил. в конце глав. - Лит.: с. 220. - Ответы на тестовые задания: с. 221. - ISBN 978-617-505-074-3 : 53.00 грн
Рубрики: Цитологія--Навчальні видання для вищої школи Ембріологія--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: цитология -- загальна ембріологія -- общая эмбриология -- мікроскопія -- микроскопия -- гістологія -- гистология -- плазмолема -- плазмолемма -- клітина -- клетка -- цитоплазма -- цитодіагностика -- цитодиагностика -- ембріогенез птахів -- эмбригенез птиц -- ембріогенез плацентарних ссавців -- эмбриогенез плацентарных млекопитающих -- ембріогенез людини -- эмбриогенез человека -- запліднення -- оплодотворение -- гістогенез -- гистогенез -- органогенез Аннотация: В первой книге изложен материал "Цитология и общая эмбриология", который кроме традиционных тем дополнен новым разделом - "Цитодиагностика". Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Баринов, Э. Ф. \ред.\; Чайковский, Ю. Б. \ред.\; Баринов, Э. Ф.; Чайковский, Ю. Б.; Николенко, О. И.; Суляева, О. Н. Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1) |
Н34 Наука і техніка в сучасному світі [] : збір. наук.-попул. текстів та навч. завдань для студентів-іноземців тех. вишів / [Г. Бойко та ін.] ; за ред. канд. філол. наук доц. Ігоря Карого ; М-во освіти і науки, молоді та спорту України, Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л. : Вид-во Львів. політехніки, 2012. - 180 с. : табл., фото.цв. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Л-ра: с.171-178. - ISBN 978-617-607-312-3 : 40.00 грн
Рубрики: Техніка--Тести--Практичні посібники Наука--Тести--Практичні посібники фывфывфыв: персональний комп'ютер -- персональный компьютер -- програмне забезпечення -- программное обеспечение -- комп'ютерні віруси -- компьютерные вирусы -- хімія -- химия -- звук -- акустика -- сіль -- соль -- метали -- металлы -- анізотропний бетон -- анизотропный бетон -- нафта -- нефть -- телекомунікації -- телекоммуникации -- електротранспорт -- электротранспорт -- дирижабль -- енергія -- энергия -- енергетика -- энергетика -- електромагнітні хвилі -- электромагнитные волны -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- сонячні затемнення -- солнечные затмения -- вежі -- башни -- будівельні матеріали -- строительные материалы -- забудова -- застройка -- голографія -- голография -- архітектура -- архитектура Аннотация: Збірник містить 32 науково-популярні тести з передтекстовими та післятекстовими завданнями і 13 додаткових текстів для самостійного читання, призначених для чужоземних студентів, котрі навчаються в українських технічних вишах. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Бойко, Галина; Гроховська, Тетяна; Качала, Олег; Юзвяк, Ірина; Карий, Ігорь \ред.\; Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України; Національний університет "Львівська політехніка" Экземпляры всего: 1 ФОНД (1) Свободны: ФОНД (1) |
Н25 Наноматеріали і нанотехнології [] : підручник для студ. вищ. навч. закл. / [В. О. Богуслаєв та ін.] ; під заг.ред. В. О. Богуслаєва. - Запоріжжя : Мотор Січ, 2015. - 201, [1] с. : рис., табл. - Л-ра: с. 198-201. - ISBN 978-966-2906-53-0 : 50.00 грн
Рубрики: Нанотехнології--Властивості--Дослідження--Навчальні видання для вищої школи фывфывфыв: розвиток наноматеріалів -- развитие наноматериалов -- класифікація наноматеріалів -- классификация наноматериалов -- електронна мікроскопія -- электронная микроскопия -- дифракційний аналіз -- дифрикционный анализ -- спектральний аналіз -- спектральный анализ -- випробування нанотвердості -- испытание нанотвердости -- фулерени -- фулерены -- нанокристалічні плівки -- нанокристаллические пленки -- нанокристалічні покриття -- нанокристаллические покрытия -- аморфізація поверхні -- аморфизация поверхности -- застосування наноматеріалів -- применение наноматериалов Аннотация: Характеристика наноматеріалів, технологія їх отримання, а також представлено методи дослідження наноматеріалів, їх стуктуру і властивості. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Богуслаєв, Вячеслав Олександрович; Качан, Олексій Якович; Калініна, Наталія Євграфівна; Мозговий, Володимир Федорович; Богуслаєв, Вячеслав Олександрович \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
К36 Кесслер, Иоахим. Поляризованные электроны [] = Polarized Electrons / И. Кесслер ; пер.с англ.: Н. М. Кабачника, Ю. А. Мамаева. - М. : Мир, 1988. - 368 с. : рис., табл. - Лит.: с. 351-361. - Предм. указ.: с. 362-364. - ISBN 5-03-001112-9 : 3.90 р.
Рубрики: Ядерна фізика--Елементарні частинки--Наукові видання фывфывфыв: поляризационные эффекты -- поляризаційні ефекти -- фотоионизация -- фотоіонізація -- многофотонная ионизация -- багатофотонна іонізація -- тормозное излучение -- гальмівне випромінювання -- синхротронное излучение -- синхротронне випромінювання -- фотоэмиссия -- фотоемісія -- автоэлектронная эмиссия -- автоелектронна емісія -- электронная микроскопия -- електронна мікроскопія Аннотация: Получение пучков поляризованных электронов и их использование в атомной физике, физике твердого тела и физике поверхностей. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Кабачник, Н. М. \пер.\; Мамаев, Ю. А. \пер.\ Экземпляры всего: 1 ЧЗ (1) Свободны: ЧЗ (1) |
К56 Ковалев, Анатолий Иванович. Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р.
Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Наукові видання Сплави--Структура--Дослідженння--Наукові видання фывфывфыв: растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгенівська фотоелектронна спектроскопія -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопія оже-електронів -- спектроскопия потерь энергии электронов -- спектроскопія втрат енергії електронів -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- мас-спектроскопія вторинних іонів -- спектроскопия ионов рассеивания -- спектроскопія іонів розсіювання -- лазерный микрозондовый анализ -- лазерний мікрозондовий аналіз Аннотация: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Щербединский, Геннадий Васильевич Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |
Э45 Электронная микроскопия в металловедении [] : справочник / [А. В. Смирнова и др.] ; под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 192 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с.184-187. - Прил.: с. 188-190. - Предм. указ.: с. 191. - 1.10 р.
Рубрики: Металознавство--Електронна мікроскопія--Довідкові видання фывфывфыв: метод реплик -- метод реплік -- метод фольг -- электронная фрактография -- електронна фрактографія -- микродифракционный анализ -- мікродифракційний аналіз -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- микрофрактограммы -- мікрофрактограми Аннотация: Обобщены и систематизированы данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях сталей и сплавов. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна; Кокорин, Глеб Александрович; Полонская, Софья Марковна; Яровой, В. В.; Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1) |