621.317:621.315.5 Б 28     Батавин, Виталий Васильевич.     Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [] / В. В. Батавин, Ю. И. Концевой, Ю. В. Федорович ; [редкол.: А. Г. Алексеенко и др.]. - М. : Радио и связь, 1985. - 264 с. : рис., табл. - (Измерения в электронике). - Лит.: с. 251-262. - 1.10 р. УДК 621.317:621.315.5 ББК 32.843.3 Рубрики: Матеріали--Напівпровідникові--Вимірювання--Практичні посібники     фывфывфыв: чотиризондовий метод -- четырехзондовый метод -- двозондовий метод -- двухзондовый метод -- неоднорідність питомого опору -- неоднородность удельного сопротивления -- опір епітаксиальних шарів -- сопротивление эпитаксиальных слоев -- ефект Хола -- эффект Холла -- геометричний магнітний опір -- геометрическое магнитное сопротивление -- спектри поглинання -- спектры поглощения -- спектри відображення -- спектры отображения -- дифузні шари -- диффузные слои -- інфрачервона інтерференція -- инфракрасная интерференция -- інфрачервана фур'є-спектромія -- инфракрасная фурье-спектромия -- метод покраски шліфу -- метод окрашивания шлифа -- контроль параметрів неосновних носіїв заряду -- контроль параметров неосновных носителей заряда -- дифузна довжина -- диффузная длина -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- ионная масс-спектроскопия -- іонна мас-спектроскопія -- электронная оже-спектроскопия -- електронна oже-спектроскопія -- электронно-зондовый рентгеновский микроанализ -- електронно-зондовий рентгенівський мікроаналіз Аннотация: Физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, вопросы их практической рализации. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Концевой, Юлий Абрамович; Федорович, Юрий Вячеславович; Алексеенко, А. Г. \ред.\; Валитов, Р. А. \ред.\; Васильченко, Н. В. \ред.\; Дубовицкий, Л. Г. \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1)

669.018.056 К56     Ковалев, Анатолий Иванович.     Современные методы исследования поверхности металлов и сплавов [] / А. И. Ковалев, Г. В. Щербединский. - М. : Металлургия, 1989. - 192 с. : рис., табл. - Прил.: с. 129-181. - Лит.: с. 182-191. - ISBN 5-229-00444-4 : 2.40 р. УДК 669.018.056 ББК 34.202.01 Рубрики: Метали--Структура--Дослідженння--Наукові видання    Сплави--Структура--Дослідженння--Наукові видання     фывфывфыв: растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- рентгенівська фотоелектронна спектроскопія -- спектроскопия оже-электронов -- спектроскопія оже-електронів -- спектроскопия потерь энергии электронов -- спектроскопія втрат енергії електронів -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- мас-спектроскопія вторинних іонів -- спектроскопия ионов рассеивания -- спектроскопія іонів розсіювання -- лазерный микрозондовый анализ -- лазерний мікрозондовий аналіз Аннотация: Изложены теоретические основы исследования состава и строения поверхности металлов и сплавов методами электронной и ионной спектроскопии, растровой электронной микроскопии, рентгеновским микроанализом. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Щербединский, Геннадий Васильевич Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1)

669.017:620.187(03) Э45         Электронная микроскопия в металловедении [] : справочник / [А. В. Смирнова и др.] ; под ред. А. В. Смирновой. - М. : Металлургия, 1985. - 192 с. : рис., табл. - Авт. зазначено на звороті тит. арк. - Лит.: с.184-187. - Прил.: с. 188-190. - Предм. указ.: с. 191. - 1.10 р. УДК 669.017:620.187(03) ББК 34.2 Рубрики: Металознавство--Електронна мікроскопія--Довідкові видання     фывфывфыв: метод реплик -- метод реплік -- метод фольг -- электронная фрактография -- електронна фрактографія -- микродифракционный анализ -- мікродифракційний аналіз -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- микрофрактограммы -- мікрофрактограми Аннотация: Обобщены и систематизированы данные, полученные при электронно-микроскопических исследованиях сталей и сплавов. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Смирнова, Анна Владимировна; Кокорин, Глеб Александрович; Полонская, Софья Марковна; Яровой, В. В.; Смирнова, Анна Владимировна \ред.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1)

669.017 П75     Приборы и методы физического металловедения [Текстььь] = Tools and technigues in physical metallurgy : в 2 ч. / пер с англ. ; под ред. Ф. Вейнберга. - М. : Мир, 1973 - 1974.    Вып. 2 / [предисл. В. Н. Колесникова]. - 1974. - 364, [2] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - 1.70 р. УДК 669.017 ББК 34.204.13 Рубрики: Металознавство--Наукові видання     фывфывфыв: электронная микроскопия -- електронна мікроскопія -- растровая электронная микроскопия -- растрова електронна мікроскопія -- автономная микроскопия -- автономна мікроскопія -- термоэлектронная эмиссионная микроскопия -- термоелектронна емісійна мікроскопія -- рентгеноспектральный микроанализ -- рентгеноспектральний мікроаналіз -- эмиссионный спектральный анализ -- емісійний спектральний аналіз Аннотация: В книгу включены обзорные статьи, посвященные различным видам микроскопии, рентгеноспектральному микроанализу, атомной абсорбционной спектрографии. Держатели документа: ЖОУНБ ім. О. Ольжича Доп.точки доступа: Вейнберг, Ф. \ред.\; Колесников, В. Н. \авт. предисл.\ Экземпляры всего: 1 ВВ (1) Свободны: ВВ (1)